[發明專利]對光譜測量設備進行仿真在審
| 申請號: | 201880091879.1 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN111936832A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發明(設計)人: | 彼得·莫羅維奇;賈恩·莫羅維奇 | 申請(專利權)人: | 惠普發展公司;有限責任合伙企業 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G06F9/455 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產權代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;宋志強 |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光譜 測量 設備 進行 仿真 | ||
特定示例涉及在顏色測量裝置中對光譜測量設備進行仿真。在這些示例中,主要光譜測量設備測量渲染的顏色輸出的第一光譜特性。向來自主要光譜測量設備的測量應用通過參數值所參數化的預測模型以確定將被輔助光譜測量設備測量的渲染的顏色輸出的第二光譜特性的預測的測量。通過利用來自主要光譜測量設備和輔助光譜測量設備的數據訓練預測模型來生成參數值。
背景技術
顏色渲染設備的目的是將渲染的顏色輸出與定義的輸入顏色相匹配。在可用于顏色渲染設備的物理硬件的約束內工作時執行該匹配。為了校準顏色渲染設備,可以通過諸如安裝在設備內的傳感器等等的傳感器來測量渲染的顏色輸出。這些測量的顏色輸出可以然后用于通過將測量的彩色與用于產生渲染的顏色輸出的輸入數據相比較來校準顏色渲染設備。定義顏色的一種方式是通過測量它們的光譜響應。可以使用涉及在波長范圍上測量電磁輻射強度值的任何光譜方法來測量光譜響應,其中,強度值可以對應于發射光或反射光。在該上下文中,可以測量可見的顏色的電磁輻射的波長范圍對應于400nm至700nm的范圍或大約400nm至700nm。對于特定實施方式,也可以測量該范圍外部的強度值,例如,用于安全功能或編碼的紫外線或紅外線強度值。可以提供不同的光譜測量設備來測量不同的光譜特性。典型地,使用測試設備在受控實驗室環境中執行校準。然后可以例如以顏色簡檔或固件設置的形式向獨立的顏色渲染設備提供校準數據。
附圖說明
本公開的各種特征將從結合隨后一起說明出本公開的特征的附圖的詳細描述而變得明顯,并且其中:
圖1是根據示例的用于顏色測量的裝置的示意圖示;
圖2是包括根據示例的顏色測量裝置的顏色渲染系統的示意圖示;
圖3是根據示例的、用于生成光譜預測的系統的示意圖示;
圖4是根據示例的非暫時性計算機可讀存儲介質的示意圖示;
圖5是根據示例的、用于訓練預測模型的處理的示意圖示;
圖6是根據示例的、用于訓練預測模型的方法的流程圖;
圖7A是示出根據示例的、表示渲染的顏色輸出的測量的光譜特性的數據的圖表;以及
圖7B是示出根據示例的、表示測量的和預測的光譜特性的數據的圖表。
具體實施方式
在本文描述的特定示例解決利用光譜測量設備來測量顏色的挑戰。在用于測量顏色的光譜測量的需求增加但是光譜測量設備在可用性方面受限的情況下,可以使用這些示例。所描述的示例可以用于增強固定規范光譜測量設備(例如,諸如構建到制造的顏色渲染設備中的設備)的功能。
在本文描述的特定示例利用主要光譜測量設備來測量渲染的顏色輸出的光譜特性。然后可以使用仿真器來處理該測量以產生與輔助光譜測量設備相關聯的預測的光譜測量。預測的光譜測量可以展現主要光譜測量設備不可檢測的光譜特征。例如,預測的光譜測量可以包括在與主要光譜測量設備能夠測量的波長相比范圍更寬的波長上的光譜響應,和/或預測的光譜測量可以涉及在一波長范圍上的不同的測量的變量,諸如基于測量的反射率值來提供預測的發射率值。
在本文描述的特定示例利用通過對訓練樣本訓練預測模型所生成的參數值。這些參數值可以參數化預測模型,該預測模型使得能夠預測輔助光譜測量設備的輸出。可以向輸入的值陣列應用預測模型以生成輸出的值陣列。可以通過使用訓練樣本來訓練預測模型從而生成參數值,該訓練樣本是從利用主要光譜測量設備和輔助光譜測量設備對渲染的顏色輸出進行測量而生成的。
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