[發(fā)明專利]顯示裝置及其缺陷像素修復(fù)方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201880090807.5
• 申請日: 2018-03-29
• 公開（公告）號: CN111886929A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 北角英人
• 申請（專利權(quán)）人: 夏普株式會社
• 主分類號: H05B33/12
• 分類號: H05B33/12;G09F9/00;G09F9/30;H01L51/50;H05B33/10;H01L27/32
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 葉乙梅

顯示裝置具有其中分別包含驅(qū)動(dòng)晶體管與電光學(xué)元件的多個(gè)像素。缺陷像素修復(fù)方法包括如下步驟：通過對形成于不同配線層且具有隔著絕緣膜在俯視時(shí)彼此重疊的部分的兩條配線的重疊部分照射激光，使兩條配線短路，從而將缺陷像素內(nèi)的電光學(xué)元件的陽極電極與鄰接的相同顏色的正常像素內(nèi)的電光學(xué)元件的陽極電極電性連接的步驟；以及在缺陷像素中，將驅(qū)動(dòng)晶體管與電光學(xué)元件電性切斷的步驟。由此，能夠容易地修復(fù)缺陷像素。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種顯示裝置，尤其涉及一種具有包含電光學(xué)元件的像素的顯示裝置及其缺陷像素修復(fù)方法。

背景技術(shù)

近年來，具備其中包含有機(jī)電致發(fā)光(Electro Luminescence：以下，稱為EL)元件的像素的有機(jī)EL顯示裝置已經(jīng)投入實(shí)際使用。有機(jī)EL顯示裝置的像素包含有有機(jī)EL元件和驅(qū)動(dòng)晶體管。有機(jī)EL元件是電光學(xué)元件的一種，其以與流過的電流量相對應(yīng)的亮度發(fā)光。驅(qū)動(dòng)晶體管與有機(jī)EL元件串聯(lián)設(shè)置，并且控制流過有機(jī)EL元件的電流量。像素內(nèi)的晶體管使用薄膜晶體管(Thin Film Transistor：以下稱為TFT)。

在有機(jī)EL顯示裝置的制造工序中，在像素中發(fā)生缺陷。缺陷像素的亮度與正常像素的亮度不同。因此，在有機(jī)EL顯示裝置的檢查工序中，進(jìn)行例如基于施加檢查用圖案時(shí)的顯示圖像來檢測缺陷像素的處理。此外，為了使缺陷像素不那么引人注目，有時(shí)進(jìn)行將缺陷像素的顏色固定為黑色的處理(以下稱為黑點(diǎn)化)。黑點(diǎn)化例如通過從像素電極分離有機(jī)EL元件的發(fā)光區(qū)域的方法、將有機(jī)EL元件的發(fā)光區(qū)域與驅(qū)動(dòng)晶體管切斷的方法來進(jìn)行。

在小型有機(jī)EL顯示裝置中，由于像素?cái)?shù)少，因此缺陷像素?cái)?shù)也少。因此，通過黑點(diǎn)化使缺陷像素不那么引人注目，從而可以將有機(jī)EL顯示裝置作為良品來出貨。另一方面，在中型或大型的有機(jī)EL顯示裝置中，由于像素?cái)?shù)多，因此缺陷像素?cái)?shù)也多。因此，即使通過黑點(diǎn)化使缺陷像素不那么引人注目，有機(jī)EL顯示裝置也有可能無法作為良品來出貨。由此，在中型或大型的有機(jī)EL顯示裝置中，優(yōu)選修復(fù)缺陷像素。

關(guān)于修復(fù)缺陷像素，以往已知有各種方法。在專利文獻(xiàn)1中記載了一種制造顯示裝置的方法，其為在形成顯示元件之前檢測到開關(guān)晶體管的不良時(shí)，將從電源供給線到不良的開關(guān)晶體管的電流路徑斷線，并且以覆蓋像素的方式在基板上形成鈍化膜，使用鈍化膜來接線已斷線的開關(guān)晶體管的第二電極和鄰接像素的驅(qū)動(dòng)晶體管的第二電極。在專利文獻(xiàn)2中記載了一種圖像顯示裝置的修復(fù)方法，其為在形成驅(qū)動(dòng)電路層時(shí)，在缺陷像素內(nèi)的驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極端子的表面和正常像素內(nèi)的驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極端子的表面上形成開口部，并且經(jīng)由兩個(gè)開口部形成直接連接兩個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極端子的跳線。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本國特開2008-262013號公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本國特開2010-249883號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題

然而，在以往的缺陷像素修復(fù)方法中，由于在形成像素的期間檢測缺陷像素并形成鈍化膜或跳線，因此存在難以實(shí)施或成本高等問題。

因此，提出以提供一種可以容易實(shí)施的顯示裝置的缺陷像素修復(fù)方法為課題。

解決問題的方案

上述問題可以通過如下缺陷像素修復(fù)方法來解決，例如，一種具有其中分別包含驅(qū)動(dòng)晶體管與電光學(xué)元件的多個(gè)像素的顯示裝置的缺陷像素修復(fù)方法，缺陷像素修復(fù)方法的特征在于，包括如下步驟：通過對形成于不同配線層且具有隔著絕緣膜在俯視時(shí)彼此重疊的部分的兩條配線的重疊部分照射激光，使兩條配線短路，從而將缺陷像素內(nèi)的電光學(xué)元件的陽極電極與鄰接的相同顏色的正常像素內(nèi)的電光學(xué)元件的陽極電極電性連接的步驟；以及在缺陷像素中，將驅(qū)動(dòng)晶體管與電光學(xué)元件電性切斷的步驟。

發(fā)明效果