[發明專利]使用最佳光譜帶最小化探頭壓力影響的光學皮膚傳感器在審
| 申請號: | 201880090359.9 | 申請日: | 2018-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN111787845A | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發明(設計)人: | B·瓦爾格斯;C·W·哈米特曼;W·赫爾曼斯;A·J·M·J·拉斯 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00;G01N21/21;A61B5/1455 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 董莘 |
| 地址: | 荷蘭艾恩*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 最佳 光譜 最小化 探頭 壓力 影響 光學 皮膚 傳感器 | ||
1.一種系統(1),包括用于測量皮膚參數的傳感器(100),所述傳感器(100)包括被配置為提供光源光(111)的多個空間上分開的光源(110),以及被配置為與所述光源(110)相距第一距離(d1)的一個或多個檢測器(120),其中所述第一距離(d1)是從5-80mm的范圍中選擇的,其中所述傳感器(100)被配置為向所述光源光(111)提供光軸(OL),所述光軸(OL)相對于所述傳感器(100)的光軸(O2)的角度(α)選自10°-80°的范圍,其中所述傳感器(100)包括至少三個光源(110),其中所述光源(110)被配置為提供非偏振光源光(111),其中所述系統(1)進一步包括分析系統(2),其中所述分析系統(2)被配置為基于所述一個或多個檢測器(120)在從350-780納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應來生成對應的皮膚傳感器值。
2.根據權利要求1所述的系統(1),其中所述分析系統(2)被配置為基于所述一個或多個檢測器(120)在370-740納米的整個波長范圍內的檢測器響應、所述一個或多個檢測器(120)在從370-420納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應、以及所述一個或多個檢測器(120)在從600-650納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應中的一個或多個檢測器響應來生成對應的皮膚傳感器值。
3.根據前述權利要求中任一項所述的系統(1),其中所述分析系統(2)被配置為基于所述一個或多個檢測器(120)在從370-420納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應、以及所述一個或多個檢測器(120)在從600-650納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應來生成對應的皮膚傳感器值。
4.根據權利要求3所述的系統,其中所述光源(110)被配置為僅提供從370-420納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長的光源光(111)、以及從600-650納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長的光源光(111)。
5.根據前述權利要求中任一項所述的系統(1),其中所述分析系統(2)被配置為基于所述一個或多個檢測器(120)在370-740納米的整個波長范圍內的檢測器響應、所述一個或多個檢測器(120)在從370-420納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應、以及所述一個或多個檢測器(120)在從600-650納米的光譜范圍中選擇的一個或多個波長處的檢測器響應,來生成對應的皮膚傳感器值。
6.根據前述權利要求1-2中任一項所述的系統(1),其中所述分析系統(2)被配置為基于所述一個或多個檢測器(120)在350-780納米中的不包括440-620納米和640-740納米的波長范圍的整個波長范圍內的檢測器響應生成對應的皮膚傳感器值。
7.根據前述權利要求中任一項所述的系統(1),其中一個或多個檢測器(120)被配置用于檢測350-780納米的波長范圍的一部分。
8.根據前述權利要求中任一項所述的系統(1),其中所述分析系統(2)被配置為確定用于測量所述皮膚參數的皮膚的類型,并且其中基于所述皮膚的類型,所述分析系統(2)被配置為選擇用于生成對應的皮膚傳感器值的所述一個或多個波長。
9.根據前述權利要求中任一項所述的系統(1),其中所述傳感器(100)進一步包括位于所述光源(110)下游和所述檢測器(120)下游的傳感器開口(107),用于將所述光源光(111)傳播出所述傳感器(100)并用于使反射的傳感器光(111)進入到所述傳感器(100)中,并且其中所述傳感器開口(107)具有圓形形狀。
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