[發明專利]引伸計結構

有效

• 申請號: 201880081715.0
• 申請日: 2018-12-03
• 公開（公告）號: CN111630338B
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: 理查德·A·邁耶;達斯廷·邦納;戴維·亞普·赤;約翰·艾伯特·克里斯琴森
• 申請（專利權）人: MTS系統公司
• 主分類號: G01B5/30
• 分類號: G01B5/30;G01N3/04
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 徐飛

一種引伸計結構(12)，包括：第一延伸臂(34)，其具有配置為支撐第一試樣接合構件(58)的第一安裝座(44)；第二延伸臂(36)，其具有配置為支撐第二試樣接合構件(58)的第二安裝座(46)。連接構件(76,76’)，其在所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)之間延伸，并在每個對應的安裝座(44,46)和所述延伸臂的遠端(34,36)之間可樞轉地連接至所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)中的每一個。以及后聯接組件，其將所述延伸臂(34,36)的遠端連接在一起。

背景技術

以下討論僅用于一般背景信息，而無意于幫助確定所要求保護的主題的范圍。

引伸計通常用于測量試樣中的應變。引伸計的多種形式在本領域中已經得到發展。一種類型的引伸計利用通過交叉撓曲組件保持在一起的兩個延伸臂。交叉撓曲組件的撓曲構件形成樞軸，該樞軸允許延伸臂相對于彼此樞轉以測量試樣中的應變。盡管這種形式的引伸計可以很好地發揮作用，但是可以進行改進。

發明內容

此處提供的內容和摘要以簡化形式介紹一些概念，這些概念將在下面的詳細描述中進一步描述。該內容和摘要不旨在標識所要求保護的主題的關鍵特征或必要特征，也不旨在用于幫助確定所要求保護的主題的范圍。所要求保護的主題不限于解決背景技術中指出的任何或所有缺點的實施方式。

一個大致的方面包括一種引伸計結構，包括：具有配置為支撐第一試樣接合構件的第一安裝座的第一延伸臂，具有配置為支撐第二試樣接合構件的第二安裝座的第二延伸臂，連接構件，其在所述第一延伸臂和所述第二延伸臂之間延伸，并在每個對應的安裝座和所述延伸臂的遠端之間可樞轉地連接至所述第一延伸臂和所述第二延伸臂中的每一個，和將所述延伸臂的遠端連接在一起的后聯接組件。

實施方式可以包括以下特征中的一個或多個。所述引伸計結構中的所述后聯接組件包括至少一個聯接連桿和串聯連接至所述第一延伸臂和所述第二延伸臂的遠端的樞轉組件。所述引伸計結構中，所述至少一個聯接連桿和樞轉組件包括連接至所述第一延伸臂的所述遠端的所述連接連桿，且所述樞轉組件包括連接至所述第二延伸臂的所述遠端的第一部分和相對于所述第一部分樞轉的第二部分，并且在與連接到所述第一延伸臂的一端相反的一端，連接至所述連接連桿。所述引伸計結構中，所述連接連桿包括撓曲件。所述引伸計結構中，所述樞轉組件包括交叉撓曲組件。所述引伸計結構中，所述第二樞轉連接部，所述交叉撓曲組件的樞轉軸線以及所述第二延伸臂與所述連接構件之間的樞轉連接部彼此位于同一條線上。所述引伸計結構中，所述第一樞轉連接部和第二樞轉連接部之間的間隔大約等于將所述第一延伸臂和所述第二延伸臂連接至所述連接構件的樞轉連接部的間隔。所述連接連桿包括剛性連桿，所述剛性連桿具有連接至所述第一延伸臂的第一樞轉連接部和連接至所述樞轉組件的所述第二部分的第二樞轉連接部。