[發明專利]存儲級存儲系統的磨損均衡方案及其實現方式在審
| 申請號: | 201880080692.1 | 申請日: | 2018-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN111868697A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 胡朝洪 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F12/02 | 分類號: | G06F12/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲 存儲系統 磨損 均衡 方案 及其 實現 方式 | ||
一種由存儲系統實現的對存儲器執行磨損均衡的方法,包括:與接收器和所述存儲器耦合的處理器根據所述存儲器的第一部分的寫計數,確定循環移位器偏移;所述存儲器根據所述循環移位器偏移,將多個用戶位和多個糾錯碼(error?correcting code,ECC)位寫入所述存儲器的第一部分和所述存儲器的第二部分。
相關申請案交叉申請
本申請要求于2017年12月12日由Chaohong Hu遞交的發明名稱為“存儲級存儲系統的磨損均衡方案及其實現方式(A Wear-Leveling Scheme and Implementation for aStorage Class Memory System)”的第62/597,758號美國臨時專利申請案的權益,其全部內容以引用的方式并入本文本中,如全文再現一般。
技術領域
本發明涉及內存管理領域。本發明具體涉及提高存儲系統中的存儲單元的生命周期。
背景技術
存儲系統中的存儲單元或物理位置的磨損程度取決于每個單元被編程的頻率。如果一個存儲單元被編程一次,然后就不再重新進行有效編程,那么該存儲單元的磨損程度一般比較低。然而,如果一個存儲單元被反復寫入和擦除,那么該存儲單元的磨損程度一般比較高。在數據存儲系統中,如果主機重復使用同一物理地址寫入和復寫數據,則會造成存儲單元的相同物理位置的重復寫入和擦除。
發明內容
根據本發明的第一方面,提供了一種存儲系統實現的方法。所述方法包括:與存儲器耦合的接收器接收用于將多個用戶位寫入所述存儲器的第一部分的寫命令,其中,所述寫命令包括所述存儲器的所述第一部分的所述多個用戶位和地址,所述用戶位與存儲在所述存儲器的第二部分的用于對所述多個用戶位執行誤差檢查的多個糾錯碼(error-correcting code,ECC)位關聯;與所述接收器和所述存儲器耦合的處理器根據所述存儲器的所述第一部分的寫計數,確定循環移位器偏移;所述存儲器根據所述循環移位器偏移,將所述多個用戶位和所述多個ECC位寫入所述存儲器的所述第一部分和所述存儲器的所述第二部分中的多個存儲單元。
在第一方面所述方法的第一種實現方式中,所述循環移位器偏移是與存儲單元數對應的整數值,通過所述存儲單元數將所述存儲器的所述第一部分和所述存儲器的所述第二部分中的所述多個用戶位和所述多個ECC位移位,其中,所述循環移位器偏移等于所述寫計數/K,K是所述寫計數關聯的預定義常數。
在第一方面或第一方面的上述任一實現方式所述方法的第二種實現方式中,所述寫計數包括多個寫計數位,其中,所述方法還包括:在增加所述寫計數之后,且在將所述多個用戶位和所述多個ECC位寫入所述多個存儲單元之前,所述處理器對所述寫計數的所述多個寫計數位進行平衡格雷碼(balanced gray code,BGC)編碼。
在第一方面或第一方面的上述任一實現方式所述方法的第三種實現方式中,所述循環移位器偏移是與所述存儲單元數對應的整數值,通過所述存儲單元數將所述存儲器的所述第一部分和所述存儲器的所述第二部分中的所述多個用戶位和所述多個ECC位移位,其中,所述多個用戶位和所述多個ECC位以邏輯方式連續存儲在各自用于存儲單個位的多個存儲單元中,且將所述多個用戶位和所述多個ECC位寫入所述多個存儲單元包括:通過所述循環移位器偏移將用于將每個所述多個用戶位和所述多個ECC位存儲到所述多個存儲單元中的一個存儲單元的位置移位。
在第一方面或第一方面的上述任一實現方式所述方法的第四種實現方式中,所述循環移位器偏移是與所述存儲單元數對應的整數值,通過所述存儲單元數將所述存儲器的所述第一部分和所述存儲器的所述第二部分中的所述多個用戶位和所述多個ECC位移位,其中,所述多個用戶位和所述多個ECC位以邏輯方式連續存儲在各自用于存儲單個半字節的多個存儲單元中,半字節包括四個位,且將所述多個用戶位和所述多個ECC位寫入所述多個存儲單元包括:通過所述循環移位器偏移將用于將每個所述多個用戶位和所述多個ECC位存儲到所述多個存儲單元中的一個存儲單元的位置移位。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華為技術有限公司,未經華為技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880080692.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:柱安裝支架
- 下一篇:病毒免疫計算機系統和方法





