[發(fā)明專利]造口術系統(tǒng)和具有角形泄漏檢測的監(jiān)測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880079418.2 | 申請日: | 2018-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN111465373B | 公開(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | J·A·漢森;F·斯皮爾曼;L·E·拉森;N·維德 | 申請(專利權)人: | 科洛普拉斯特公司 |
| 主分類號: | A61F5/44 | 分類號: | A61F5/44;A61F5/443;A61F5/445 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 曹瑾 |
| 地址: | 丹麥胡*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 造口術 系統(tǒng) 具有 角形 泄漏 檢測 監(jiān)測 裝置 | ||
1.一種用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,所述造口術器具具有底板,所述底板具有第一粘合劑層,所述第一粘合劑層具有被配置用于將所述底板附接至使用者的皮膚表面上的近側,所述第一粘合劑層具有帶有中心點的造口開口,所述監(jiān)測裝置包括:
處理器;
存儲器;
連接至所述處理器和所述存儲器的第一接口,所述第一接口被配置用于從聯(lián)接至所述第一接口的底板獲得造口術數(shù)據(jù),所述造口術數(shù)據(jù)包括來自所述底板的一級電極組的一級泄漏造口術數(shù)據(jù)、以及來自所述底板的二級電極組的二級泄漏造口術數(shù)據(jù);以及
連接至所述處理器的第二接口,
其中,所述處理器被配置用于:
-基于所述一級泄漏造口術數(shù)據(jù)來獲得一級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù);
-基于所述二級泄漏造口術數(shù)據(jù)來獲得二級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù);
-基于所述一級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在一級感測區(qū)中檢測流體的存在,所述一級感測區(qū)布置在從所述第一粘合劑層的中心點的一級角度空間中;
-基于所述二級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在二級感測區(qū)中檢測流體的存在,所述二級感測區(qū)與所述一級感測區(qū)分開并且布置在從所述第一粘合劑層的中心點的二級角度空間中;
-根據(jù)檢測到在所述一級感測區(qū)中存在流體,經由所述第二接口來發(fā)送一級泄漏監(jiān)測器信號,所述一級泄漏監(jiān)測器信號包含指示在所述一級感測區(qū)中存在流體的監(jiān)測器數(shù)據(jù);以及
-根據(jù)檢測到在所述二級感測區(qū)中存在流體,經由所述第二接口來發(fā)送二級泄漏監(jiān)測器信號,所述二級泄漏監(jiān)測器信號包含指示在所述二級感測區(qū)中存在流體的監(jiān)測器數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,所述造口術數(shù)據(jù)包括來自所述底板的三級電極組的三級泄漏造口術數(shù)據(jù),其中,所述處理器被配置用于:
-基于所述三級泄漏造口術數(shù)據(jù)來獲得三級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù);
-基于所述三級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在三級感測區(qū)中檢測流體的存在,所述三級感測區(qū)與所述一級感測區(qū)和所述二級感測區(qū)分開并且布置在從所述第一粘合劑層的中心點的三級角度空間中;以及
-根據(jù)檢測到在所述三級感測區(qū)中存在流體,經由所述第二接口來發(fā)送三級泄漏監(jiān)測器信號,所述三級泄漏監(jiān)測器信號包含指示在所述三級感測區(qū)中存在流體的監(jiān)測器數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權利要求1至2中任一項所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,基于所述一級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在一級感測區(qū)中檢測流體的存在是基于一級泄漏指標集,其中,如果所述一級泄漏指標集被滿足,則所述一級感測區(qū)中存在流體。
4.根據(jù)權利要求3所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,所述一級泄漏指標集是基于存儲在所述存儲器中的一級泄漏閾值。
5.根據(jù)權利要求1至2中任一項所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,基于所述二級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在二級感測區(qū)中檢測流體的存在是基于二級泄漏指標集,其中,如果所述二級泄漏指標集被滿足,則所述二級感測區(qū)中存在流體。
6.根據(jù)權利要求5所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,所述二級泄漏指標集是基于存儲在所述存儲器中的二級泄漏閾值。
7.根據(jù)權利要求2所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,基于所述三級泄漏參數(shù)數(shù)據(jù)來在所述第一粘合劑層的近側上在三級感測區(qū)中檢測流體的存在是基于三級泄漏指標集,其中,如果所述三級泄漏指標集被滿足,則所述三級感測區(qū)中存在流體。
8.根據(jù)權利要求7所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,所述三級泄漏指標集是基于存儲在所述存儲器中的三級泄漏閾值。
9.根據(jù)權利要求1至2中任一項所述的用于包括造口術器具的造口術系統(tǒng)的監(jiān)測裝置,其中,所述第二接口包括連接至所述處理器的揚聲器,并且其中,所述處理器被配置用于經由所述揚聲器來發(fā)送監(jiān)測器信號。
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