[發明專利]包含碳化硅和碳顆粒的復合物

有效

• 申請號: 201880078823.2
• 申請日: 2018-05-31
• 公開（公告）號: CN111433943B
• 公開（公告）日: 2023-08-25
• 發明（設計）人: 本杰明·容·樸;吉爾·R·佩斯塔納;劉曉華;弗雷德里克·博恩霍姆
• 申請（專利權）人: 新強能電池公司
• 主分類號: H01M4/04
• 分類號: H01M4/04;H01M4/134;H01M4/62
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;洪欣

1.用于電化學電池的電極中的硅顆粒，所述硅顆粒包括：

提供小于87.2°的平均接觸角的表面，其中通過使用力張力計的Washburn方法測量接觸角；以及

從所述表面延伸20?nm深度的外部區域，所述外部區域包含一定量的鋁以使得整體測量的鋁占所述硅顆粒的至少0.01重量%。

2.如權利要求1所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.01重量%至1重量%。

3.如權利要求1所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的至少0.05重量%。

4.如權利要求3所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.05重量%至1重量%。

5.如權利要求1所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的至少0.1重量%。

6.如權利要求5所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.1重量%至1重量%。

7.如權利要求6所述的硅顆粒，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.1重量%至0.6重量%。

8.如權利要求1至7中任一項所述的硅顆粒，其中所述外部區域包含氧化鋁。

9.如權利要求1至7中任一項所述的硅顆粒，其中所述外部區域包含硅化鋁。

10.如權利要求1至7中任一項所述的硅顆粒，其中所述平均接觸角為82°至87.1°。

11.用于電化學電池的電極，所述電極包含權利要求1至10中任一項所述的硅顆粒。

12.?復合材料膜，包含：

大于0重量%且小于99重量%的硅顆粒，其中所述硅顆粒具有包含碳化硅、或碳和碳化硅的混合物的表面涂層，所述表面涂層提供小于87.2°的平均接觸角，其中通過使用力張力計的Washburn方法測量接觸角，其中所述硅顆粒包括從所述表面涂層延伸20?nm深度的區域，并且其中所述區域包含一定量的鋁以使得整體測量的鋁占所述硅顆粒的至少0.01重量%；以及

大于0重量%且小于90重量%的一種或多種類型的碳相，其中所述一種或多種類型的碳相中的至少一種是連續的相。

13.如權利要求12所述的復合材料膜，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的至少0.1重量%。

14.如權利要求13所述的復合材料膜，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.1重量%至1重量%。

15.如權利要求14所述的復合材料膜，其中所述整體測量的所述鋁占所述硅顆粒的0.1重量%至0.6重量%。

16.如權利要求12至15中任一項所述的復合材料膜，其中所述區域包含氧化鋁。

17.如權利要求12至15中任一項所述的復合材料膜，其中所述區域包含硅化鋁。

18.如權利要求12至15中任一項所述的復合材料膜，其中所述復合材料膜包含占所述復合材料膜的50重量%至99重量%的所述硅顆粒。

19.如權利要求18所述的復合材料膜，其中所述復合材料膜包含占所述復合材料膜的70重量%至99重量%的所述硅顆粒。

20.?如權利要求12至15中任一項所述的復合材料膜，其中所述硅顆粒的平均粒度為0.1?μm至40?μm。