[發(fā)明專利]信號處理裝置和信號處理方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880076352.1
• 申請日: 2018-11-21
• 公開（公告）號: CN111727366B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吉田真希子;佐佐木俊輔;高倉樹
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社日立高新技術(shù)
• 主分類號: G01N21/76
• 分類號: G01N21/76;G01N35/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;曹鑫

1.一種信號處理裝置，其特征在于，具備：

第一測量部，其以第一時間分辨率取得自動分析裝置輸出的第一時間序列信號；

第二測量部，其以比上述第一時間分辨率高的第二時間分辨率取得上述自動分析裝置輸出的第二時間序列信號；

數(shù)據(jù)處理部，其對上述第二時間序列信號進行平滑化，并提取平滑化后的上述第二時間序列信號的峰值位置；以及

判定部，其根據(jù)與上述峰值位置有關(guān)的波形形狀特征量來進行上述自動分析裝置的測定異常的判定，

上述判定部求出上述波形形狀特征量與參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離，

上述參照數(shù)據(jù)簇包括正常參照數(shù)據(jù)簇和異常參照數(shù)據(jù)簇，所述正常參照數(shù)據(jù)簇是基于正常測定的測定數(shù)據(jù)組，所述異常參照數(shù)據(jù)簇是基于預(yù)定的異常狀態(tài)下的測定的測定數(shù)據(jù)組，

上述判定部將上述波形形狀特征量與上述正常參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離和上述波形形狀特征量與上述異常參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離進行比較，并根據(jù)其比較結(jié)果來進行上述自動分析裝置的測定異常的判定。

2.一種信號處理方法，其特征在于，具備：

第一測量工序，以第一時間分辨率取得自動分析裝置輸出的第一時間序列信號；

第二測量工序，以比上述第一時間分辨率高的第二時間分辨率取得上述自動分析裝置輸出的第二時間序列信號；

數(shù)據(jù)處理工序，對上述第二時間序列信號進行平滑化，并提取平滑化后的上述第二時間序列信號的峰值位置；以及

判定工序，根據(jù)與上述峰值位置有關(guān)的波形形狀特征量來進行上述自動分析裝置的測定異常的判定，

在上述判定工序中，求出上述波形形狀特征量與參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離，

上述參照數(shù)據(jù)簇包括正常參照數(shù)據(jù)簇和異常參照數(shù)據(jù)簇，所述正常參照數(shù)據(jù)簇是基于正常測定的測定數(shù)據(jù)組，所述異常參照數(shù)據(jù)簇是基于預(yù)定的異常狀態(tài)下的測定的測定數(shù)據(jù)組，

將上述波形形狀特征量與上述正常參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離和上述波形形狀特征量與上述異常參照數(shù)據(jù)簇之間的廣義馬氏距離進行比較，并根據(jù)其比較結(jié)果來進行上述自動分析裝置的測定異常的判定。