[發明專利]用于生產用于離子-分子-反應質譜的氣態銨的方法

有效

• 申請號: 201880075875.4
• 申請日: 2018-12-20
• 公開（公告）號: CN111386590B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 尤金·哈頓根
• 申請（專利權）人: 愛奧尼肯分析股份有限公司
• 主分類號: H01J49/14
• 分類號: H01J49/14
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 宋融冰

一種用于由離子源獲得氣態銨(NHsubgt;4/subgt;supgt;+/supgt;)的方法，離子源包含以可傳導流體的方式連接的第一區(1)和第二區(2)，方法包含以下步驟：a)將Nsubgt;2/subgt;和Hsubgt;2/subgt;O引入離子源的第一區(1)和第二區(2)；b)將電離方法施加至第一區(1)中的Nsubgt;2/subgt;和Hsubgt;2/subgt;O的混合物；c)施加至少一個電場或調節壓力條件或施加至少一個電場與調節壓力條件的組合，促進離子從第一區(1)至第二區(2)的流動且誘導第二區(2)中的離子的反應；d)將NHsubgt;4/subgt;supgt;+/supgt;從離子源導出。離子分子反應?質譜儀實施這種方法用于生產NHsubgt;4/subgt;supgt;+/supgt;且然后將NHsubgt;4/subgt;supgt;+/supgt;導入反應區域。

技術領域

本發明涉及一種由離子源獲得氣態銨(NH₄⁺)的方法。本發明還涉及一種用氣態銨使樣品電離的方法，其包含獲得銨和在反應室中使樣品電離。此外，本發明涉及一種通過在MS-儀器中檢測離子來檢測離子的質荷比的離子產率(ion?yield)的方法。最后，本發明涉及一種IMR-MS儀器，其包含離子源、連接至該離子源的反應區域、連接至該反應區域的質譜儀區域、用于源氣體的至少一個進口、用于樣品進入反應區域的至少一個進口、N₂源、H₂O源和至少一個泵。

背景技術

用離子-分子-反應-質譜(IMR-MS)進行氣體分析已很好地建立了數十年(參見，例如，A.M.Ellis,C.A.Mayhew.Proton?Transfer?Reaction?Mass?Spectrometry?Principlesand?Applications.John?WileySons?Ltd.，UK，2014)。這個領域中最重要的技術為質子-轉移-反應–質譜(PTR-MS)、選擇的-離子-流動-管–質譜(SIFT-MS)和選擇的-離子-流動-漂移-管–質譜(SIFDT-MS)。在離子源中生成所謂的主要或試劑離子(reagent?ion)且將其注入反應室(通常在PTR-MS中稱為“漂移管”、在SIFT-MS中稱為“流動管”且在SIFDT-MS中稱為“流動-漂移管”)，其中發生分析物的化學電離。典型的化學離子反應為：

質子轉移反應，不管是非離解的還是離解的，其中A為試劑離子(例如，H₂O.H⁺、NH₃.H⁺等)且BC為分析物：

A.H⁺+BC→A+BC.H⁺

A.H⁺+BC→A+B+C.H⁺

電荷轉移反應，不管是非離解的還是離解的，其中A為試劑離子(例如，O₂⁺、NO⁺、Kr⁺等)且BC為分析物：

A⁺+BC→A+BC⁺

A⁺+BC→A+B+C⁺

團簇反應，其中A為試劑離子(例如，H₃O⁺、NO⁺、O₂⁺、NH₄⁺)且BC為分析物：

A⁺+BC→BC.A⁺

此外，其他類型的反應可發生(例如，配體變換、在帶負電的試劑離子的情況下的H⁺提取等)。