[發明專利]光檢測電路有效
| 申請號： | 201880074769.4 | 申請日： | 2018-09-05 |
| 公開（公告）號： | CN111417845B | 公開（公告）日： | 2022-11-25 |
| 發明（設計）人： | 牧野健二 | 申請（專利權）人： | 浜松光子學株式會社 |
| 主分類號： | G01J1/44 | 分類號： | G01J1/44;H01L31/10 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人： | 楊琦;黃浩 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 電路 | ||
1.一種光檢測電路，其特征在于，
包括：
具有第1陽極和第1陰極，并通過對應于入射光量而產生的光電動勢在所述第1陽極與所述第1陰極之間產生電壓的第1光檢測元件；
具有第1非反相輸入端子、第1反相輸入端子和第1輸出端子的第1運算放大器；和
將在所述第1輸出端子產生的輸出電壓放大的放大電路，
所述第1非反相輸入端子連接固定電位，
所述第1陽極和所述第1陰極中的一方連接所述第1反相輸入端子，所述第1陽極和所述第1陰極中的另一方連接所述第1輸出端子，
所述放大電路具有第2運算放大器、第1電阻元件和第2電阻元件，
所述第2運算放大器具有第2非反相輸入端子、第2反相輸入端子和第2輸出端子，
所述第1電阻元件的一端連接所述第2反相輸入端子，所述第1電阻元件的另一端連接所述第1輸出端子，
所述第2電阻元件的一端連接所述第2反相輸入端子，所述第2電阻元件的另一端連接所述第2輸出端子，
所述第2非反相輸入端子連接固定電位，
所述第1電阻元件為具有第2陽極和第2陰極的第2光檢測元件，
在所述第2光檢測元件中，通過對應于入射光量而產生的光電動勢在所述第2陽極與所述第2陰極之間產生電壓。
2.如權利要求1所述的光檢測電路，其特征在于：
所述第2光檢測元件與所述第1光檢測元件在同一芯片構成。
3.如權利要求1或2所述的光檢測電路，其特征在于：
所述第1光檢測元件由單一或串聯連接的多個第1光電二極管構成，
所述第2光檢測元件由單一或串聯連接的多個第2光電二極管構成。
4.如權利要求3所述的光檢測電路，其特征在于：
所述第2光電二極管的個數少于所述第1光電二極管的個數。
5.如權利要求1或2所述的光檢測電路，其特征在于：
所述第1陽極連接所述第1反相輸入端子，所述第1陰極連接所述第1輸出端子。
6.如權利要求1或2所述的光檢測電路，其特征在于：
所述第1陰極連接所述第1反相輸入端子，所述第1陽極連接所述第1輸出端子。
7.如權利要求1或2所述的光檢測電路，其特征在于：
還包括電容元件，
所述電容元件的一端連接所述第1陽極，所述電容元件的另一端連接所述第1陰極。
8.如權利要求1或2所述的光檢測電路，其特征在于：
還包括第3電阻元件，
所述第3電阻元件的一端連接所述第1陽極，所述第3電阻元件的另一端連接所述第1陰極。
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