[發(fā)明專利]波長轉(zhuǎn)換體有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880073650.5 | 申請日: | 2018-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN111656228B | 公開(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中村將啟;奧野達(dá)也 | 申請(專利權(quán))人: | 松下知識產(chǎn)權(quán)經(jīng)營株式會社 |
| 主分類號: | G02B5/20 | 分類號: | G02B5/20;C09K11/08 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳建全 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 波長 轉(zhuǎn)換 | ||
1.一種波長轉(zhuǎn)換體,其具備:
基材部;和
形成于所述基材部上的光學(xué)轉(zhuǎn)換層,其包含光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子和保持所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子彼此的無機粘合劑部,
其中,所述無機粘合劑部包含平均粒徑小于所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的粒子狀的粘合劑微粒和無定型粘合劑,
將所述光學(xué)轉(zhuǎn)換層中的自所述光學(xué)轉(zhuǎn)換層的厚度方向的中間面起存在于所述基材部側(cè)的部分規(guī)定為基材側(cè)部分、將自所述中間面起存在于與所述基材部相反側(cè)的部分規(guī)定為反基材側(cè)部分,將所述基材側(cè)部分中的所述粘合劑微粒的平均體積濃度相對于所述基材側(cè)部分中的所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的平均體積濃度的比率規(guī)定為基材側(cè)粘合劑微粒濃度比率RFS、并且將所述反基材側(cè)部分中的所述粘合劑微粒的平均體積濃度相對于所述反基材側(cè)部分中的所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的平均體積濃度的比率規(guī)定為反基材側(cè)粘合劑微粒濃度比率RFO,所述基材側(cè)粘合劑微粒濃度比率RFS大于所述反基材側(cè)粘合劑微粒濃度比率RFO。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的平均粒徑為1~100μm,所述粘合劑微粒的平均粒徑為10~100nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,將所述基材側(cè)部分中的所述無定型粘合劑的平均體積濃度相對于所述基材側(cè)部分中的所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的平均體積濃度的比率規(guī)定為基材側(cè)無定型粘合劑濃度比率RAS、并且將所述反基材側(cè)部分中的所述無定型粘合劑的平均體積濃度相對于所述反基材側(cè)部分中的所述光學(xué)轉(zhuǎn)換無機粒子的平均體積濃度的比率規(guī)定為反基材側(cè)無定型粘合劑濃度比率RAO,所述反基材側(cè)無定型粘合劑濃度比率RAO大于所述基材側(cè)無定型粘合劑濃度比率RAS。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述無定型粘合劑的熱膨脹系數(shù)小于所述粘合劑微粒的熱膨脹系數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述粘合劑微粒為中空粒子或介孔粒子。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述粘合劑微粒的材質(zhì)為金屬氧化物或氟化合物。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述無定型粘合劑的材質(zhì)是以聚硅氮烷及聚硅氮烷衍生物中的至少一者作為前驅(qū)體的硅玻璃。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述粘合劑微粒的熱膨脹系數(shù)為1×10-6/K以上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述粘合劑微粒的折射率為1.43以下。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波長轉(zhuǎn)換體,其中,所述基材部由金屬形成。
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