[發明專利]放射線檢測器和放射線檢測系統

有效

• 申請號: 201880073346.0
• 申請日: 2018-09-11
• 公開（公告）號: CN111356938B
• 公開（公告）日: 2023-09-26
• 發明（設計）人: 井上正人
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G01T1/20
• 分類號: G01T1/20
• 代理公司: 北京怡豐知識產權代理有限公司 11293
• 代理人: 遲軍;李艷麗

本發明提供放射線檢測器和放射線檢測系統。放射線檢測器(1a)用于適當地分離放射線的低能量成分信息和高能量成分信息，并包括：傳感器面板(2)，其包括二維布置的多個第一光電轉換元件部(23)和第二光電轉換元件部(24)；第一閃爍體(31)，其被布置為與傳感器面板(2)的一面重疊；第二閃爍體(32)，其被布置為與傳感器面板(2)的一面相對的一側上的面重疊；以及遮光部(26)，其被布置在有效像素區域(22)中布置了多個第一光電轉換元件部(23)和第二光電轉換元件部(24)的區域的外部,并且在第一閃爍體(31)和第二閃爍體(32)之間。

技術領域

本發明涉及一種放射線檢測器和放射線檢測系統。

背景技術

在放射線圖像拍攝中，已知一種能量減法，即：使用不同的能量成分拍攝多個放射線圖像，并對所拍攝的多個放射線圖像進行差分運算，以使得能夠例如辨別放射線圖像中成像的被攝體。作為通過一次放射線照射獲得不同能量成分的放射線圖像而不會引起位置偏移的配置，專利文獻1公開了如下配置：在基板的一面和另一面上布置用于在放射線入射時發射光的波長轉換部，通過第一光電二極管檢測通過基板的一面上布置的波長轉換部發射的光，通過第二光電二極管檢測通過另一面上布置的波長轉換部發射的光。專利文獻1還公開了如下配置：允許放射線從基板的一面側進入，以便通過第一光電二極管檢測低能量成分，通過第二光電二極管檢測高能量成分。

在專利文獻1中描述的X射線檢測元件中，還將波長轉換部布置在布置有第一光電二極管和第二光電二極管的區域的外部。通過這種配置，通過基板的一面上布置的波長轉換部發射的光可以透過基板進入另一面上布置的波長轉換部，并且可以由基板和波長轉換部之間的界面反射，從而進入第二光電二極管。結果是，在由第二光電二極管檢測的高能量成分所生成的放射線圖像中可能會混入低能量成分的信息。因此，存在辨別被攝體的精度可能降低的擔憂。

引用列表

專利文獻

PTL?1：日本專利特開No.2010-56396

發明內容

技術問題

鑒于上述情況，本發明要解決的問題是，在用于拍攝不同能量成分的放射線圖像的放射線檢測器中，針對各個能量成分的放射線圖像合適地分離不同能量成分的信息。

問題的解決方案

為了解決上述問題，本發明的一個實施例提供了一種放射線檢測器，所述放射線檢測器包括：傳感器面板，其包括二維布置的多個光電轉換元件部；第一閃爍體，其被布置為與所述傳感器面板的一面重疊；第二閃爍體，其被布置為與所述傳感器面板的一面相對的一側上的面重疊；以及遮光部，其被布置在布置了所述多個光電轉換元件部的區域的外部，并且在所述第一閃爍體和所述第二閃爍體之間。

發明的有益效果

根據本發明，在用于拍攝不同能量成分的放射線圖像的放射線檢測器中，能夠針對各個能量成分的放射線圖像適當分離不同能量成分的信息。

通過下文將要參照附圖描述的實施例，本發明的其他特征將變得更加顯而易見。

附圖說明

圖1是根據本發明的第一實施例的放射線檢測器的剖面圖。

圖2是根據第一實施例的放射線檢測器的平面圖。

圖3A是光電轉換元件部的剖面圖。

圖3B是光電轉換元件部的剖面圖。

圖4A是根據本發明的第二實施例的放射線檢測器的剖面圖和平面圖。

圖4B是根據第二實施例的放射線檢測器的剖面圖和平面圖。

圖5是根據本發明的第三實施例的放射線檢測器的剖面圖。