[發(fā)明專(zhuān)利]存儲(chǔ)器裝置的修整設(shè)置確定有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880071772.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111316365B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·提魯文加達(dá)姆;D·L·洛倫斯;P·費(fèi)利 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 美光科技公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G11C29/02 | 分類(lèi)號(hào): | G11C29/02;G11C16/10 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 王龍 |
| 地址: | 美國(guó)愛(ài)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ)器 裝置 修整 設(shè)置 確定 | ||
本發(fā)明包含與包含控制器及存儲(chǔ)器單元陣列的存儲(chǔ)器系統(tǒng)相關(guān)的設(shè)備及方法。實(shí)例設(shè)備可包含控制器,所述控制器經(jīng)配置以基于由存儲(chǔ)器單元陣列執(zhí)行的先前操作接收所述存儲(chǔ)器單元陣列的操作特性,基于所述存儲(chǔ)器單元陣列的所述操作特性確定所述存儲(chǔ)器單元陣列的一組修整設(shè)置,其中所述修整設(shè)置組與所述存儲(chǔ)器單元陣列的所要操作特性相關(guān)聯(lián),且將所述修整設(shè)置組發(fā)送到所述存儲(chǔ)器單元陣列。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明大體上涉及存儲(chǔ)器系統(tǒng),且更特定來(lái)說(shuō)涉及確定存儲(chǔ)器裝置的修整設(shè)置的設(shè)備和方法。
背景技術(shù)
存儲(chǔ)器裝置通常被提供為計(jì)算機(jī)或其它電子裝置中的內(nèi)部、半導(dǎo)體、集成電路及/或外部可移除裝置。存在許多不同類(lèi)型的存儲(chǔ)器,包含易失性及非易失性存儲(chǔ)器。易失性存儲(chǔ)器可能需要電源來(lái)維持其數(shù)據(jù)且可包含隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)及同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SDRAM)等等。非易失性存儲(chǔ)器可通過(guò)在不加電時(shí)保留存儲(chǔ)數(shù)據(jù)來(lái)提供持久數(shù)據(jù)且可包含NAND閃存、NOR閃存、只讀存儲(chǔ)器(ROM)及電阻可變存儲(chǔ)器,例如相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(PCRAM)、電阻性隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RRAM)、磁性隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(MRAM)及可編程導(dǎo)電存儲(chǔ)器等等。
存儲(chǔ)器裝置可用作用于需要高存儲(chǔ)器密度、高可靠性及低功耗的廣泛范圍的電子應(yīng)用的易失性及非易失性存儲(chǔ)器。非易失性存儲(chǔ)器可用于例如個(gè)人計(jì)算機(jī)、便攜式存儲(chǔ)棒、固態(tài)驅(qū)動(dòng)器(SSD)、數(shù)碼相機(jī)、蜂窩電話(huà)、例如MP3播放器的便攜式音樂(lè)播放器及電影播放器,以及其它電子裝置中。
電阻可變存儲(chǔ)器裝置可包含可基于存儲(chǔ)元件(例如,具有可變電阻的電阻性存儲(chǔ)器元件)的電阻狀態(tài)來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的電阻性存儲(chǔ)器單元。因而,可通過(guò)改變電阻性存儲(chǔ)器元件的電阻電平來(lái)對(duì)電阻性存儲(chǔ)器單元進(jìn)行編程以存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于目標(biāo)數(shù)據(jù)狀態(tài)的數(shù)據(jù)。可通過(guò)將例如正或負(fù)電脈沖(例如,正或負(fù)電壓或電流脈沖)的電場(chǎng)或能量源施加到電阻性存儲(chǔ)器單元(例如,所述單元的電阻性存儲(chǔ)器元件)達(dá)特定持續(xù)時(shí)間來(lái)將所述單元編程為目標(biāo)數(shù)據(jù)狀態(tài)(例如,對(duì)應(yīng)于特定電阻狀態(tài))。可通過(guò)響應(yīng)于所施加詢(xún)問(wèn)電壓而感測(cè)通過(guò)電阻性存儲(chǔ)器單元的電流來(lái)確定所述單元的狀態(tài)。基于所述單元的電阻電平變動(dòng)的所感測(cè)電流可指示所述單元的狀態(tài)。
可針對(duì)電阻性存儲(chǔ)器單元設(shè)置數(shù)種數(shù)據(jù)狀態(tài)(例如,電阻狀態(tài))中的一者。例如,單級(jí)存儲(chǔ)器單元(SLC)可被編程為兩種不同數(shù)據(jù)狀態(tài)中的目標(biāo)狀態(tài),所述目標(biāo)狀態(tài)可由二進(jìn)制單位1或0表示且可取決于所述單元是否被編程為高于或?yàn)榈陀谔囟娖降碾娮琛W鳛轭~外實(shí)例,一些電阻性存儲(chǔ)器單元可被編程為兩種以上數(shù)據(jù)狀態(tài)中的目標(biāo)狀態(tài)(例如,1111、0111、0011、1011、1001、0001、0101、1101、1100、0100、0000、1000、1010、0010、0110及1110)。此類(lèi)單元可被稱(chēng)為多狀態(tài)存儲(chǔ)器單元、多單位單元或多級(jí)單元(MLC)。MLC可提供更高密度存儲(chǔ)器而不會(huì)增加存儲(chǔ)器單元數(shù),因?yàn)槊恳粏卧杀硎疽粋€(gè)以上數(shù)字(例如,一個(gè)以上位)。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)案的一個(gè)實(shí)施例提供一種設(shè)備,其包括具有控制電路的控制器,所述控制電路經(jīng)配置以:基于由存儲(chǔ)器單元陣列(112、212)執(zhí)行的先前操作接收所述存儲(chǔ)器單元陣列的操作特性(461、462、463、464、465、466、467、468);基于所述存儲(chǔ)器單元陣列的所述操作特性確定所述存儲(chǔ)器單元陣列的一組修整設(shè)置(106、206、330、332、334),其中所述修整設(shè)置組與所述存儲(chǔ)器單元陣列的所要操作特性相關(guān)聯(lián);及將所述修整設(shè)置組發(fā)送到所述存儲(chǔ)器單元陣列。
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線(xiàn)操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪(fǎng)問(wèn)操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
- 光源裝置、照明裝置、液晶裝置和電子裝置
- 預(yù)測(cè)裝置、編輯裝置、逆預(yù)測(cè)裝置、解碼裝置及運(yùn)算裝置
- 圖像形成裝置、定影裝置、遮光裝置以及保持裝置
- 打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置以及打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置的控制方法
- 電子裝置、光盤(pán)裝置、顯示裝置和攝像裝置
- 光源裝置、照明裝置、曝光裝置和裝置制造方法
- 用戶(hù)裝置、裝置對(duì)裝置用戶(hù)裝置、后端裝置及其定位方法
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