[發(fā)明專利]活體檢測方法和設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880071738.3
• 申請日: 2018-11-05
• 公開（公告）號: CN111655144A
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄭家偉;羅文佑;伍顯鴻;黃國城
• 申請（專利權(quán)）人: 維德鴻興科技發(fā)展有限公司
• 主分類號: A61B5/053
• 分類號: A61B5/053;H03K17/96
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 張娜;顧麗波

1.一種電子電路布置，其用于檢測活體與接觸表面的電接觸，其中，所述活體具有類似于阻抗網(wǎng)絡(luò)的電特征，該阻抗網(wǎng)絡(luò)包括串聯(lián)連接的第一阻抗部分、第二阻抗部分和第三阻抗部分；其中，所述第一阻抗部分包括具有第一電容值的第一電容器和具有第一電阻值的第一電阻器，所述第一電容器和所述第一電阻器并聯(lián)連接以構(gòu)成第一阻抗電橋，所述第二阻抗部分包括具有第二電容值的第二電容器和具有第二電阻值的第二電阻器，所述第二電容器和所述第二電阻器并聯(lián)連接以構(gòu)成第二阻抗電橋，以及所述第三阻抗部分包括具有第三電容值的第三電容器和具有第三電阻值的第三電阻器，所述第三電容器和所述第三電阻器并聯(lián)連接以構(gòu)成第三阻抗電橋；以及其中，所述阻抗網(wǎng)絡(luò)具有特征充電上升時間和特征放電下降時間；

其中，所述電子電路布置包括固態(tài)控制器、非易失性數(shù)據(jù)存儲裝置、探測信號源和響應(yīng)信號收集器：

其中，所述信號源生成探測脈沖或一連串探測脈沖作為探測信號，并將所述探測信號發(fā)送到接觸端子；

其中，所述響應(yīng)信號收集器收集所述接觸端子處的響應(yīng)信號，所述響應(yīng)信號是對作用在所述接觸端子上的所述探測信號做出響應(yīng)或反應(yīng)而生成的信號；

其中，所述探測脈沖包括在探測脈沖基礎(chǔ)狀態(tài)電壓下的探測脈沖基礎(chǔ)狀態(tài)、在探測狀態(tài)電壓下的探測狀態(tài)、以及具有中間電壓的探測脈沖中間狀態(tài)；

其中，所述探測脈沖在作為探測脈沖上升時間的上升時間從所述基礎(chǔ)狀態(tài)電壓上升到所述探測狀態(tài)電壓，保持在所述探測狀態(tài)達(dá)限定探測狀態(tài)持續(xù)時間的持續(xù)時間，在所述探測狀態(tài)結(jié)束時返回到所述探測脈沖基礎(chǔ)狀態(tài)，并且保持在所述探測脈沖基礎(chǔ)狀態(tài)達(dá)探測基礎(chǔ)狀態(tài)持續(xù)時間直到所述探測脈沖結(jié)束；

其中，當(dāng)所述探測脈沖從所述探測脈沖基礎(chǔ)狀態(tài)改變到所述探測狀態(tài)時，所述探測脈沖中間狀態(tài)的所述中間電壓隨時間增加；

其中，所述探測脈沖和所述阻抗網(wǎng)絡(luò)是相關(guān)的或被表征的，使得在所述探測脈沖施加在所述阻抗網(wǎng)絡(luò)上時，預(yù)期包括具有期望脈沖基礎(chǔ)大小的期望脈沖基礎(chǔ)和相關(guān)電特征的期望響應(yīng)脈沖，其中，所述相關(guān)電特征包括期望脈沖峰、期望脈沖穩(wěn)定狀態(tài)和將所述期望脈沖峰和所述期望脈沖穩(wěn)定狀態(tài)互連的期望脈沖過渡狀態(tài)；其中，所述期望脈沖峰具有期望脈沖信號大小，所述期望脈沖峰信號大小是具有或帶有所述探測狀態(tài)電壓和所述第二電阻值之間的相關(guān)性的電氣參數(shù)；其中，所述期望脈沖穩(wěn)定狀態(tài)具有期望穩(wěn)定狀態(tài)信號大小，所述穩(wěn)定狀態(tài)信號大小具有或帶有所述探測狀態(tài)電壓和所述阻抗網(wǎng)絡(luò)中的所述電阻器的電阻值之和之間的相關(guān)性；以及所述期望脈沖過渡狀態(tài)具有下降時間或下降時間特征，所述下降時間或下降時間特征與所述阻抗網(wǎng)絡(luò)的所述特征放電下降時間相應(yīng)或?qū)?yīng)；

以及其中，所述控制器在多個捕獲時間處捕獲所述響應(yīng)信號的多個電氣參數(shù)，參考所捕獲的電氣參數(shù)來確定所述響應(yīng)信號是否包括具有所述期望響應(yīng)脈沖的所述相關(guān)電特征或者與所述期望響應(yīng)脈沖對應(yīng)的響應(yīng)脈沖，以及在肯定的確定結(jié)果時發(fā)出控制信號，該控制信號指示肯定的活體檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子電路布置，其中，所述探測脈沖被配置成使得所述期望脈沖峰為所述期望響應(yīng)脈沖的單個主峰并且具有第一電極性的期望峰大小，其中，所述期望脈沖穩(wěn)定狀態(tài)的所述穩(wěn)定狀態(tài)信號大小具有非零大小和所述第一電極性，并且其中，所述期望響應(yīng)脈沖為非過零脈沖。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子電路布置，其中，所述探測脈沖被配置成使得所述期望穩(wěn)定狀態(tài)信號大小介于所述期望脈沖峰信號大小和所述期望脈沖基礎(chǔ)大小之間，并且其中，所述期望穩(wěn)定狀態(tài)信號大小、所述期望脈沖峰信號大小和所述期望脈沖基礎(chǔ)大小具有為所述第一電極性的相同電極性。

4.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的電子電路布置，其中，所述探測脈沖被配置成使得在期望脈沖上升時間，所述期望響應(yīng)脈沖從所述期望脈沖基礎(chǔ)上升到所述期望脈沖峰，并且其中，所述期望脈沖上升時間等于或稍大于所述探測脈沖上升時間。

5.根據(jù)任一前述權(quán)利要求所述的電子電路布置，其中，所述探測脈沖被配置成使得在期望脈沖下降時間，所述期望響應(yīng)脈沖從所述期望脈沖峰下降到所述期望脈沖穩(wěn)定狀態(tài)，并且其中，所述期望脈沖下降時間等于或小于所述探測脈沖的所述探測狀態(tài)持續(xù)時間。