[發(fā)明專利]在殼體內(nèi)具有分析儀的輻射探測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880069560.9 | 申請日: | 2018-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN111433633A | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 約翰·M·弗蘭克;阿爾坦·久拉伊 | 申請(專利權(quán))人: | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/20 | 分類號: | G01T1/20;G01T1/02;G01T7/00 |
| 代理公司: | 北京允天律師事務(wù)所 11697 | 代理人: | 李建航;高源 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 殼體 具有 分析 輻射 探測 裝置 | ||
1.一種輻射探測裝置,包括:
殼體;
閃爍體,所述閃爍體響應(yīng)于吸收輻射而發(fā)出閃爍光;
一個或多個硅光電倍增器,所述一個或多個硅光電倍增器響應(yīng)于接收所述閃爍光而產(chǎn)生電子脈沖;以及
光耦合器,其中所述光耦合器形成密封以隔離所述閃爍體,其中所述殼體包含所述閃爍體、所述一個或多個硅光電倍增器和所述光耦合器,并且其中可改變所述一個或多個硅光電倍增器的數(shù)量而不破壞所述密封。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述一個或多個硅光電倍增器的所述數(shù)量增加。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述一個或多個硅光電倍增器的所述數(shù)量減少。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中可改變所述輻射探測裝置的功能性而不破壞所述密封。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述一個或多個硅光電倍增器鄰近所述光耦合器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述一個或多個硅光電倍增器光耦接至所述閃爍體。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述光耦合器包含硅膠。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射探測裝置,其中所述光耦合器與所述殼體形成密封以隔離所述閃爍體。
9.一種使用輻射探測裝置的方法,包括:
提供殼體,所述殼體包含閃爍體、光電傳感器和光耦合器,其中:
所述閃爍體配置為響應(yīng)于吸收輻射而發(fā)出閃爍光;
所述光電傳感器配置為響應(yīng)于接收所述閃爍光而產(chǎn)生電子脈沖;
所述光耦合器形成密封以隔離所述閃爍體;以及
改變所述輻射探測裝置的功能性而不破壞所述密封。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,改變功能性包括改變所述光電傳感器的數(shù)量。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中所述光電傳感器為半導(dǎo)體基光電倍增器。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中所述半導(dǎo)體基光電倍增器包括一個或多個硅光電倍增器。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,進一步包括:
響應(yīng)于吸收輻射而從所述閃爍體發(fā)出閃爍光。
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