[發明專利]在磁共振成像系統中對相位相關的偽影的數據驅動的校正

有效

• 申請號: 201880068610.1
• 申請日: 2018-08-15
• 公開（公告）號: CN111263896B
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: J·J·邁內克;T·尼爾森
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01R33/565
• 分類號: G01R33/565;G01R33/561
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉兆君

1.一種磁共振成像系統（100），包括：

主磁體（104），其用于在成像區（108）內生成主磁場，

磁場梯度系統，其用于在所述成像區（108）內生成空間相關的梯度磁場，

射頻系統，其包括天線元件（126）的集合，每個天線元件被配置用于從所述成像區（108）采集磁共振數據（142），

存儲器（138），其存儲機器可執行指令和脈沖序列命令（140），其中，所述脈沖序列命令（140）被配置用于控制所述磁共振成像系統（100）以從所述成像區（108）采集所述磁共振數據（142），

處理器，其用于控制所述磁共振成像系統（100），其中，對所述機器可執行指令的運行令所述處理器控制所述磁共振成像系統（100）：

通過所述天線元件（126）中的每個天線元件從所述成像區（108）采集磁共振數據（142），

重建組合圖像數據（144），其中，所述重建包括：將所述天線元件（126）的所采集的磁共振數據（142）從k空間變換到圖像空間，以及使用相應的天線元件的靈敏度來組合所述天線元件（126）的結果得到的圖像數據，

使用所重建的組合圖像數據（144）來模擬通過每個天線元件（126）采集的磁共振數據（146），其中，所述模擬包括將所重建的組合圖像數據（144）從圖像空間變換到k空間，

針對每個天線元件（126），確定針對所述相應的天線元件（126）的所采集的磁共振數據（142）的相位校正因子，其中，所述確定包括計算所述相應的天線元件（126）的所采集的磁共振數據（142）與所模擬的磁共振數據（146）之間的相位差，

使用針對所述相應的天線元件（126）確定的所述相位校正因子來校正每個天線元件（126）的所采集的磁共振數據（142）。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像系統（100），其中，使用經校正的磁共振數據（148）來迭代地重復對組合圖像數據（144）的所述重建、對磁共振數據（146）的所述模擬、對所述相位校正因子的所述確定以及對所采集的磁共振數據（142）的所述校正，以便進一步校正經校正的磁共振數據（148），直到滿足預定義終止準則為止。

3.根據權利要求1所述的磁共振成像系統（100），其中，每個天線元件（126）從所述成像區（108）采集磁共振數據（142）的多個集合，其中，所述多個集合中的每一個集合是在不同時間采集的，

其中，所述天線元件的所采集的磁共振數據（142）從k空間到圖像空間的所述變換包括：

針對每個天線元件（126），對所述相應的天線元件（126）的集合的所采集的磁共振數據（142）隨時間進行平均化，并且將結果得到的磁共振數據從k空間變換到圖像空間，或者

針對每個天線元件（126），將所述相應的天線元件（126）的集合的所述磁共振數據（142）從k空間變換到圖像空間，并且將結果得到的磁共振數據隨時間進行平均化。

4.根據權利要求1所述的磁共振成像系統（100），其中，針對所采集的磁共振數據（142）包括的k空間中的每個點，確定個體相位校正因子，并且將所述個體相位校正因子用于對針對相應的點采集的磁共振數據的所述校正，

其中，對所述個體相位校正因子的所述確定包括：針對k空間中的點中的每個點，計算針對所述相應的點采集的磁共振數據與針對所述相應的點模擬的磁共振數據（146）之間的個體相位差。

5.根據權利要求1所述的磁共振成像系統（100），其中，所述相位校正因子是針對所采集的磁共振數據（142）的子集確定的平均化的相位校正因子并且被用于對所述子集包括的所采集的磁共振數據的所述校正，

其中，對所述平均化的相位校正因子的所述確定包括通過對在所述子集包括的所采集的磁共振數據與所模擬的磁共振數據（146）之間計算出的相位差進行平均化來計算平均化的相位差。

6.根據權利要求5所述的磁共振成像系統（100），其中，所述子集包括所采集的磁共振數據（142）的第一數據選擇結果，所述第一數據選擇結果位于k空間中沿著讀出方向的線上，使得所述平均化的相位差在所述讀出方向上被平均化。