[發明專利]用于確定樣品成分的熒光測量裝置、系統和方法有效
| 申請號: | 201880065346.6 | 申請日: | 2018-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN111194403B | 公開(公告)日: | 2021-12-14 |
| 發明(設計)人: | 伊扎特·赫加齊;文森特·坎寧安 | 申請(專利權)人: | 沙特阿拉伯石油公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/33;G01N33/28 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
| 地址: | 沙特阿拉*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 確定 樣品 成分 熒光 測量 裝置 系統 方法 | ||
1.一種熒光測量裝置,包括:
單波長光源,被配置為產生激發光;
樣品保持器,限定被配置用于保持樣品的內腔,并且包括對所述激發光透明的表面,所述樣品保持器的旋轉軸線垂直通過所述樣品保持器的中心定位,所述光源和所述樣品保持器在空間上布置為使得在樣品測試期間,入射在所述表面上的所述激發光的一部分穿過所述表面并且以距所述表面的一深度入射在所述樣品保持器中的所述樣品上,其中,所述樣品被配置為:響應于所述激發光的所述部分以距所述表面的所述深度入射在所述樣品上,發射熒光;
一個或多個安裝件,附接到所述光源或所述樣品保持器中的至少一個,且被配置為:在所述樣品測試期間,主動地改變所述激發光入射在所述表面上的入射角,且相應地改變距所述激發光的所述部分入射在所述樣品上的所述表面的深度,其中,所述一個或多個安裝件包括能夠旋轉的安裝件,所述能夠旋轉的安裝件附接到所述樣品保持器的基座,且被配置為使所述樣品保持器的所述表面相對于所述激發光源旋轉;
一個或多個光學組件,在空間上布置為接收由所述樣品發射的且穿過所述表面的所述熒光的一部分,且被配置為將接收到的所述一部分引導至檢測器;以及
所述檢測器,被配置為檢測熒光發射的強度。
2.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述樣品保持器的旋轉軸線垂直通過所述樣品保持器的所述表面的中心定位。
3.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述表面相對于垂直軸線在0°-80°的范圍內傾斜。
4.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述光源包括限定波長處的紫外光譜中的激光。
5.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述檢測器包括耦接到光電倍增管的單色儀。
6.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,還包括:濾波器,定位在所述表面和所述檢測器之間,且被配置為使指定范圍的波長通過并濾除與所述指定范圍不同的波長。
7.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述一個或多個光學組件包括:
透鏡,定位在所述表面和所述檢測器之間,且被配置為將所述熒光發射聚焦在光纜的入口上;以及
光纜,定位在所述透鏡和所述檢測器之間,并且具有入口和出口,所述入口被配置為接收聚焦的熒光發射,所述出口定位為將所述聚焦的熒光發射導向到所述檢測器。
8.根據權利要求1所述的熒光測量裝置,其中,所述樣品包括烴類流體。
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