[發明專利]用于光檢測和測距的系統和方法

有效

• 申請號: 201880062259.5
• 申請日: 2018-09-24
• 公開（公告）號: CN111164452B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: C.奧納爾;B.加森德;P-y.德羅茲
• 申請（專利權）人: 偉摩有限責任公司
• 主分類號: G01S7/486
• 分類號: G01S7/486;G01S7/491
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 金玉潔

1.一種用于光檢測和測距的系統，包括：

襯底；

耦合到所述襯底的多個單光子光電檢測器，其中單光子光電檢測器被布置為檢測來自視場的光；

耦合到所述襯底的至少一個附加的光電檢測器，其中所述至少一個附加的光電檢測器不同于單光子光電檢測器，其中所述至少一個附加的光電檢測器被布置為檢測來自視場的光；以及

控制器，被配置為運行程序指令以執行操作，所述操作包括：

從所述多個單光子光電檢測器接收第一光電檢測器信號，其中第一光電檢測器信號指示由單光子光電檢測器檢測到的來自視場的光；

從所述至少一個附加的光電檢測器接收第二光電檢測器信號，其中第二光電檢測器信號指示由所述至少一個附加的光電檢測器檢測到的來自視場的光；

從以下至少兩個中選擇光電檢測器信號：第一光電檢測器信號、第二光電檢測器信號、以及通過組合第一光電檢測器信號和第二光電檢測器信號形成的組合光電檢測器信號，其中，組合第一光電檢測器信號和第二光電檢測器信號包括：

調節第一光電檢測器信號，其中調節第一光電檢測器信號包括將第一光電檢測器信號乘以高動態范圍分布的第一值；

調節第二光電檢測器信號，其中調節第二光電檢測器信號包括將第二光電檢測器信號乘以高動態范圍分布的第二值；以及

對調節后的第一光電檢測器信號和第二光電檢測器信號求和；以及

基于所選擇的光電檢測器信號確定視場中的光的強度。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，選擇所述光電檢測器信號包括：

將第一光電檢測器信號與第一閾值進行比較；以及

響應于第一光電檢測器信號小于第一閾值的確定，選擇第一光電檢測器信號作為所選擇的光電檢測器信號。

3.根據權利要求1所述的系統，其中，選擇所述光電檢測器信號包括：

將第二光電檢測器信號與第二閾值進行比較；以及

響應于第二光電檢測器信號大于第二閾值的確定，選擇第二光電檢測器信號作為所選擇的光電檢測器信號。

4.根據權利要求1所述的系統，其中，選擇所述光電檢測器信號包括：

將第一光電檢測器信號與第一閾值進行比較；

將第二光電檢測器信號與第二閾值進行比較；以及

響應于第一光電檢測器信號大于第一閾值并且第二光電檢測器信號小于第二閾值，組合第一光電檢測器信號和第二光電檢測器信號并且選擇組合光電檢測器信號作為所選擇的光電檢測器信號。

5.根據權利要求1所述的系統，其中，所述高動態范圍分布包括查找表，其中查找表包括0.0和1.0之間的值。

6.根據權利要求1所述的系統，其中，所述多個單光子光電檢測器包括硅光電倍增管SiPM檢測器，其中所述至少一個附加的光電檢測器包括以下各項中的至少一個：雪崩光電二極管APD檢測器或PIN光電二極管檢測器。

7.根據權利要求1所述的系統，其中，所述襯底包括第一表面，其中所述多個單光子光電檢測器和所述至少一個附加的光電檢測器耦合到所述第一表面。

8.根據權利要求1所述的系統，其中，所述多個單光子光電檢測器耦合到所述至少一個附加的光電檢測器的上表面，以便形成堆疊的光電檢測器布置。

9.根據權利要求1所述的系統，其中，所述襯底包括沿著主平面的第一表面，其中所述多個單光子光電檢測器的至少一部分檢測器沿著第一表面布置在所述至少一個附加的光電檢測器的至少一部分檢測器之間，以便形成混合的光電檢測器布置。

10.根據權利要求1所述的系統，還包括成像光學器件，其中所述多個單光子光電檢測器和所述至少一個附加的光電檢測器通過成像光學器件檢測來自共享視場的光。