[發明專利]光抑制光子結構

在審

• 申請號: 201880061902.2
• 申請日: 2018-07-23
• 公開（公告）號: CN111133294A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 喬納森·M·羅思伯格;杰勒德·施密德;亞歷山大·貢達倫科;J·比奇;K·普勒斯頓;法席德·加塞米;杰瑞米·拉基;杰克·朱厄爾;基斯·G·法夫;阿里·卡比里
• 申請（專利權）人: 寬騰矽公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;C12Q1/6869
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 付文川;吳小瑛

1.一種集成裝置，其包括：

多個樣品孔，其配置于該集成裝置的第一層上，其中該多個樣品孔的個別樣品孔經配置以接收經至少一種熒光標記物標記的樣品，該至少一種熒光標記物經配置以響應于激發光發射發射光；

多個光檢測器，其配置于該集成裝置的第二層上且經定位以接收自該多個樣品孔發射的發射光的光子，其中該多個樣品孔的個別樣品孔與該多個光檢測器的至少一個光檢測器對準；及

至少一個光子結構，其定位于個別樣品孔與其各自至少一個光檢測器之間，該至少一個光子結構經配置以相對于該發射光衰減該激發光，其中由該至少一個光檢測器生成的信號指示檢測到發射光的光子。

2.如權利要求1所述的集成裝置，其中該至少一個光子結構經定位以在共軸上與個別樣品孔及其各自至少一個光檢測器對準。

3.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該多個樣品孔的樣品孔經定位以與其各自至少一個光檢測器重疊。

4.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該多個樣品孔的個別樣品孔與該多個光檢測器的個別光檢測器對準。

5.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個光子結構具有至少一個在共軸上與個別樣品孔及其各自至少一個光檢測器對準的開口。

6.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其進一步包括至少一個經配置以使激發光耦合至該多個樣品孔的一部分的波導。

7.如權利要求6或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個波導的第一波導經定位以與該部分樣品孔的第一樣品孔及該多個光檢測器的第一光檢測器沿共軸重疊。

8.如權利要求7或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個光子結構沿該共軸定位于該第一波導與該第一光檢測器之間。

9.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個光子結構包含至少一個具有至少一個開口的空間濾波器，該開口與該多個樣品孔的至少一部分重疊且經配置以阻斷該激發光的至少一部分的傳遞。

10.如權利要求9或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個空間濾波器包含至少一個經配置以阻斷該激發光的至少一部分的傳遞的金屬層。

11.如權利要求10或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該集成裝置進一步包括含有該至少一個金屬層的電路，其中該電路電耦合至該多個光檢測器的至少一個光檢測器。

12.如權利要求9或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個空間濾波器包含經定位鄰近該多個樣品孔的第一空間濾波器及經定位鄰近該多個光檢測器的第二空間濾波器。

13.如權利要求12或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該第一空間濾波器含有具有第一尺寸的開口且該第二空間濾波器含有具有第二尺寸的開口，該第一尺寸大于該第二尺寸。

14.如權利要求1或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個光子結構包含至少一個經配置以高于第二范圍波長的水平傳遞第一范圍波長的濾光器，其中該第一波長范圍包含該發射光的至少一個特征波長且該第二波長范圍包含該激發光的至少一個特征波長。

15.如權利要求14或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個濾光器定位于第一空間濾波器與第二空間濾波器之間。

16.如權利要求14或任一其他前述權利要求所述的集成裝置，其中該至少一個濾光器包含多個具有低折射率材料的低折射率層及多個具有高折射率材料的高折射率層。