[發明專利]3軸側視共聚焦熒光顯微內鏡有效
| 申請號: | 201880059601.6 | 申請日: | 2018-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN111095074B | 公開(公告)日: | 2023-06-09 |
| 發明(設計)人: | 托馬斯·D·王;段西雨;李海軍 | 申請(專利權)人: | 密歇根大學董事會 |
| 主分類號: | G02B21/02 | 分類號: | G02B21/02;G02B21/04;G02B23/24 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產權代理有限公司 11018 | 代理人: | 翟洪玲;周艷玲 |
| 地址: | 美國密*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 側視 聚焦 熒光 顯微 | ||
1.一種用于允許二維和三維成像的光學探針掃描組件,其包括:
殼體,其具有被配置為接收光纖束源的近端和用于定位在樣本處的遠端,所述殼體具有沿從所述近端到所述遠端延伸的縱向軸線延伸的長度;
光學聚焦組件,其被配置為沿軸向光束路徑聚焦來自所述光纖束源的選擇的輸出光束;以及
反射鏡掃描組件,其位于物鏡后位置處的所述光學聚焦組件的下游,所述反射鏡掃描組件相對于所述軸向光束路徑成一定角度定位,從而使所述選擇的輸出光束偏轉到橫向軸線以從所述殼體的側面發射所述選擇的輸出光束,所述反射鏡掃描組件進一步包括在U形懸掛件內中心定位的反射器,所述反射器被配置為沿第一軸線和第二軸線旋轉以沿橫向平面掃描所述選擇的輸出光束,并且所述U形懸掛件被配置為在所述第一軸線和所述第二軸線的平面外平移所述反射器以沿傾斜平面掃描所述選擇的輸出光束,所述光學探針掃描組件具有用于以共聚焦方式捕獲來自所述樣本的輻射的共聚焦配置。
2.根據權利要求1所述的掃描組件,其中所述反射鏡掃描組件包括反射器和萬向架組件,所述萬向架組件連接至所述反射器并且被配置為圍繞一個或多個軸線可控制地旋轉所述反射器,以沿所述橫向平面掃描所述選擇的輸出光束。
3.根據權利要求2所述的掃描組件,其中所述萬向架組件被配置為圍繞兩個正交軸線可控制地旋轉所述反射器,以沿所述橫向平面掃描所述選擇的輸出光束。
4.根據權利要求2所述的掃描組件,其中所述反射鏡掃描組件包括一個或多個懸掛件,所述一個或多個懸掛件聯接至所述反射器并且被配置為可控制地使所述反射器沿所述橫向平面移位。
5.根據權利要求2所述的掃描組件,其中所述反射鏡掃描組件包括一個或多個懸掛件,所述一個或多個懸掛件聯接至所述反射器并且被配置為可控制地使所述反射器從所述橫向平面向平面外移位。
6.根據權利要求1所述的掃描組件,進一步包括位于所述反射鏡掃描組件下游的采集光學組件。
7.根據權利要求1所述的掃描組件,其中所述殼體被配置為接收單模光纖或多模光纖作為所述光纖束源。
8.根據權利要求1所述的掃描組件,進一步包括被配置為接收來自所述樣本的輻射的一個或多個光電探測器。
9.根據權利要求8所述的掃描組件,其中所述輻射是響應于沿所述殼體的所述側面發射的所述選擇的輸出光束對所述樣本的照射而從所述樣本發射的熒光。
10.根據權利要求9所述的掃描組件,其中所述熒光包括可見光子或近紅外光子。
11.根據權利要求1所述的掃描組件,其中所述光學聚焦組件和所述反射鏡掃描組件被配置為以700×600μm2或更大的視場從所述殼體的所述側面發射所述選擇的輸出光束。
12.根據權利要求11所述的掃描組件,其中所述光學聚焦組件和所述反射鏡掃描組件被配置為保持低于10μm的成像分辨率。
13.根據權利要求11所述的掃描組件,其中所述光學聚焦組件和所述反射鏡掃描組件被配置為保持低于5μm的成像分辨率。
14.根據權利要求11所述的掃描組件,其中所述光學聚焦組件和所述反射鏡掃描組件被配置為保持低于2μm的成像分辨率。
15.根據權利要求11所述的掃描組件,其中所述光學聚焦組件和所述反射鏡掃描組件被配置為保持低于1μm的成像分辨率。
16.根據權利要求1所述的掃描組件,其中所述殼體具有10mm或更小的直徑。
17.根據權利要求1所述的掃描組件,其中所述殼體具有4mm或更小的直徑。
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