[發明專利]用于補償缺陷微型發光二極管的多行冗余微型發光二極管

在審

• 申請號: 201880059226.5
• 申請日: 2018-07-12
• 公開（公告）號: CN111095079A
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發明（設計）人: 伊利亞斯·帕帕斯
• 申請（專利權）人: 臉譜科技有限責任公司
• 主分類號: G02B27/01
• 分類號: G02B27/01
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 陸建萍;楊明釗

1.一種方法，包括：

接收表示要在掃描場上再現的圖像的圖像信號；

確定對應于所述圖像信號的光源陣列中光源的第一亮度；

通過以下步驟將光源的所述第一亮度調節到光源的第二亮度，以補償所述光源陣列中的缺陷光源：

增加與所述缺陷光源在同一列中的工作光源的至少一個子集的亮度，以及

增加與所述缺陷光源在同一行中的工作光源的至少一個子集的亮度；以及

操作光學元件以根據所述第二亮度將來自所述光源陣列中不同行光源的光順序地反射到所述掃描場上。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述同一行中的工作光源的至少一個子集由所述同一行中所述缺陷光源的緊鄰左側和緊鄰右側的光源組成。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述同一列中的工作光源的至少一個子集由被布置成發射與所述缺陷光源相同顏色的光的光源組成。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述光源陣列的列包括發射第一顏色的第一組光源、發射第二顏色的第二組光源和發射第三顏色的第三組光源。

5.根據權利要求1所述的方法，還包括在查找表中為所述光源陣列中的每個光源存儲用于將所述光源陣列的第一亮度調節到所述光源陣列的第二亮度的調節參數。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，所述調節參數是在所述光源陣列的檢查階段期間被確定的。

7.根據權利要求5所述的方法，其中，所述查找表存儲在圖形處理單元中。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，所述光學元件是波導或微鏡。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，所述光源是發光二極管(LED)。

10.一種裝置，包括：

處理器，其被配置成：

接收表示要在掃描場上再現的圖像的圖像信號，

確定對應于所述圖像信號的光源陣列中光源的第一亮度，

通過以下步驟將光源的所述第一亮度調節到光源的第二亮度，以補償所述光源陣列中的缺陷光源：

增加與所述缺陷光源在同一列中的工作光源的至少一個子集的亮度，以及

增加與所述缺陷光源在同一行中的工作光源的至少一個子集的亮度；以及

光學元件，其被操作成根據所述第二亮度將來自所述光源陣列中不同行光源的光順序地反射到所述掃描場上。

11.根據權利要求10所述的裝置，其中，所述同一行中的工作光源的至少一個子集由所述同一行中所述缺陷光源的緊鄰左側和緊鄰右側的光源組成。

12.根據權利要求10所述的裝置，其中，所述同一列中的工作光源的至少一個子集由被布置成發射與所述缺陷光源相同顏色的光的光源組成。

13.根據權利要求12所述的裝置，其中，所述光源陣列的列包括發射第一顏色的第一組光源、發射第二顏色的第二組光源和發射第三顏色的第三組光源。

14.根據權利要求10所述的裝置，其中，所述處理器還被配置成在查找表中為所述光源陣列中的每個光源存儲用于將所述光源陣列的第一亮度調節到所述光源陣列的第二亮度的調節參數。

15.根據權利要求14所述的裝置，其中，所述調節參數是在所述光源陣列的檢查階段期間被確定的。

16.根據權利要求14所述的裝置，其中，所述查找表存儲在圖形處理單元中。

17.根據權利要求10所述的裝置，其中，所述光學元件是波導或微鏡。