[發明專利]基于光學參考的吸光度檢測方法及系統

在審

• 申請號: 201880058226.3
• 申請日: 2018-06-08
• 公開（公告）號: CN111051858A
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: L·布倫森;J·C·弗萊塔格;T·湯普森
• 申請（專利權）人: 鋒翔科技公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/03;G01N21/33
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 南毅寧

1.一種系統，包括：

第一光源；

信號檢測器；

位于所述第一光源和所述信號檢測器之間的流動路徑，其中，所述第一光源、所述信號檢測器和所述流動路徑沿第一軸對齊；

第二光源；以及

參考檢測器，所述第二光源和所述參考檢測器沿不同于所述第一軸的第二軸對齊。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一光源和所述第二光源安裝在公共基板上。

3.根據權利要求2所述的系統，其中，所述公共基板耦合到熱控制裝置。

4.根據權利要求2所述的系統，其中，所述公共基板、所述第一光源和所述第二光源被容納在可移動模塊上，所述可移動模塊被配置為從殼體插入和移除，所述殼體容納有所述信號檢測器、所述流動路徑、所述參考檢測器，且所述信號檢測器、所述流動路徑和所述參考檢測器固定地耦合到所述殼體。

5.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一光源安裝在第一基板上，且所述第二光源安裝在第二基板上。

6.根據權利要求5所述的系統，其中，所述第一基板和所述第二基板分別耦合到公共熱控制裝置。

7.根據權利要求5所述的系統，其中，所述第一基板耦合到第一熱控制裝置，且所述第二基板耦合到第二熱控制裝置。

8.根據權利要求7所述的系統，其中，所述第一熱控制裝置與所述第二熱控制裝置在尺寸、熱容量、熱導率、熱擴散率和熱質量中的至少一個方面不同。

9.根據權利要求5所述的系統，所述系統還包括控制器，所述控制器被配置為使所述第一光源的光強度與所述第二光源的光強度相關。

10.根據權利要求9所述的系統，其中，所述控制器還被配置為：

基于所述信號檢測器的輸出確定樣品透射率信號；

基于所述參考檢測器的輸出確定參考信號；

基于所述參考信號和相關因子，計算參考校正值，所述相關因子是使所述第一光源的光強度與所述第二光源的光強度相關的因子；以及

基于所述樣品透射率信號和所述參考校正值計算樣品的吸光度。

11.根據權利要求1所述的系統，所述系統還包括溫度傳感器，所述溫度傳感器被配置為測量所述第一光源的溫度和/或所述第二光源的溫度。

12.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一光源包括一個以上的光發射器，和/或所述第二光源包括一個以上的光發射器。

13.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一光源和所述第二光源串聯電耦合。

14.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一光源被配置為輸出具有給定波長范圍的光，且所述第二光源被配置為輸出具有相同給定波長范圍的光。

15.一種系統，包括

分別安裝在公共基板上的第一光源和第二光源；

信號檢測器；

位于所述第一光源和所述信號檢測器之間的流動路徑，其中所述第一光源、所述信號檢測器和所述流動路徑沿第一軸對齊；

參考檢測器，所述第二光源和所述參考檢測器沿不同于所述第一軸的第二軸對齊；

耦合到所述公共基板的熱控制裝置；

耦合到所述公共基板的溫度傳感器；以及

控制器，被配置為基于所述溫度傳感器的輸出調節所述熱控制裝置。

16.根據權利要求15所述的系統，其中，所述控制器被配置為調節所述熱控制裝置以將所述公共基板的溫度維持在預定溫度范圍內。