[發明專利]極性納米工程化的弛豫PbTiOi鐵電晶體有效
| 申請號: | 201880056866.0 | 申請日: | 2018-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN111133597B | 公開(公告)日: | 2023-06-20 |
| 發明(設計)人: | 羅軍;W·S·哈肯貝格爾;李飛;張書軍;T·R·旭洛特 | 申請(專利權)人: | TRS技術股份有限公司;賓夕法尼亞州立大學研究基金會 |
| 主分類號: | H10N30/853 | 分類號: | H10N30/853;H10N30/093;H10N30/097 |
| 代理公司: | 廣州川墨知識產權代理事務所(普通合伙) 44485 | 代理人: | 龍亮華 |
| 地址: | 美國賓夕*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 極性 納米 工程 pbtioi 電晶體 | ||
1.一種弛豫PT基壓電晶體,包括通式
(Pb1-1.5xMx){[(MI,MII)1-z(MI’,MII’)z]1-yTiy}O3,
其中:
M是稀土陽離子,其選自Pr3+、Nd3+、Pm3+、Sm3+、Eu3+、Gd3+、Tb3+、Dy3+、Ho3+、Er3+、Tm3+、Yb3+、Lu3+中的一種或多種;
MI選自Mg2+、Zn2+、Yb3+、Sc3+和In3+;
MII是Nb5+;
MI’選自Mg2+、Zn2+、Yb3+、Sc3+、In3+和Zr4+;
MII’是Nb5+或Zr4+;
0<x≤0.05;
0.02<y<0.7;和
0≤z<1,
如果MI’或MII’是Zr4+,則MI’和MII’是Zr4+,以及
其中所述弛豫PT基壓電晶體為單晶體。
2.根據權利要求1所述的晶體,其中z是0,晶體為二元晶體。
3.根據權利要求2所述的晶體,其中MI選自Mg2+、Zn2+、Yb3+、Sc3+和In3+,以及MII是Nb5+。
4.根據權利要求1所述的晶體,其中0<z<1,晶體為三元晶體。
5.根據權利要求4所述的晶體,其中MI選自Mg2+、Zn2+、Yb3+、Sc3+和In3+,以及MII是Nb5+,以及MI’和MII’各自為Zr4+。
6.根據權利要求4所述的晶體,其中MI和MI’各自獨立地選自Mg2+、Zn2+、Yb3+、Sc3+和In3+,以及MII和MII’各自為Nb5+。
7.根據權利要求1所述的晶體,其中M選自Nd3+、Sm3+、Eu3+、Gd3+中的一種或多種。
8.根據權利要求7所述的晶體,其中M是Sm3+。
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