[發明專利]具有不對稱噴霧的APCI離子源

有效

• 申請號: 201880055593.8
• 申請日: 2018-08-10
• 公開（公告）號: CN111052302B
• 公開（公告）日: 2023-10-13
• 發明（設計）人: T·R·科維;P·科瓦里克
• 申請（專利權）人: DH科技發展私人貿易有限公司
• 主分類號: H01J49/16
• 分類號: H01J49/16;H01J49/00;H01J49/24
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 馬景輝

1.一種質譜儀的大氣壓化學電離源，其包括：

加熱汽化管，所述加熱汽化管限定沿中心縱軸從入口端延伸到出口端的管腔，所述管的所述出口端被配置成安置在與質譜儀的采樣孔流體連通的離子源殼體內；

采樣探頭，所述采樣探頭從入口端延伸到出口端，所述入口端被配置成接收包括溶劑分子和樣品分子的液體樣品，所述出口端安置在所述加熱汽化管的處于所述其入口端與出口端之間的所述管腔內，其中所述采樣探頭的所述出口端被配置成將所述液體樣品排放到樣品噴霧中，所述樣品噴霧展現出不與所述管腔的所述中心縱軸共軸的中心軸，其中所述加熱汽化管被配置成在所述樣品噴霧朝著所述其出口端橫穿所述管腔時使所述溶劑分子和所述樣品分子的至少一部分汽化；以及

電荷源，所述電荷源鄰近于所述汽化管的所述出口端安置，所述汽化管被配置成當汽化的溶劑分子和樣品分子從所述加熱汽化管的所述出口端離開而進入到所述離子源殼體中時將電荷施加到所述汽化的溶劑分子和樣品分子，以便電離所述離子源殼體內的所述樣品分子。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述樣品噴霧的所述中心軸與所述管腔的所述中心縱軸偏移并與其基本上平行。

3.根據權利要求2所述的裝置，其進一步包括氣體源，所述氣體源被配置成提供繞所述采樣探頭的氣體流，以朝著所述加熱汽化管的內側壁引導從所述采樣探頭排放的所述液體樣品。

4.根據權利要求1所述的裝置，其中所述樣品噴霧的所述中心軸與所述加熱汽化管相交。

5.根據權利要求1所述的裝置，其中所述采樣探頭的所述出口端被配置成使所述液體樣品霧化。

6.根據權利要求5所述的裝置，其中所述采樣探頭包括液體導管和氣體導管，所述液體導管具有用于排放所述液體樣品的出口端，所述氣體導管至少部分地圍繞所述液體導管以提供繞從所述液體導管的所述出口端排放的所述液體樣品的霧化氣體。

7.根據權利要求6所述的裝置，其中至少所述液體導管的所述出口端沿與所述加熱汽化管相交的縱軸延伸。

8.根據權利要求1所述的裝置，其中所述汽化管被配置成加熱到在約100℃到約750℃的范圍內的溫度。

9.根據權利要求1所述的裝置，其中所述電荷源包括電暈放電針。

10.根據權利要求1所述的裝置，其中所述加熱汽化管和所述采樣探頭被配置成使得所述汽化的溶劑分子和樣品分子優選地從所述管腔的中心縱軸的一側離開所述加熱汽化管。

11.根據權利要求10所述的裝置，其中所述電荷源在所述側上鄰近于所述汽化管的遠端安置，所述汽化的溶劑分子和樣品分子優選地從所述側離開。

12.一種電離液體樣品內的樣品分子的方法，其包括：

將液體樣品從采樣探頭的出口端排放到加熱汽化管的管腔中，其中所述加熱汽化的所述管腔沿中心縱軸延伸，其中當樣品噴霧展現出不與所述管腔的所述中心縱軸共軸的中心軸時排放所述液體樣品；

當所述樣品噴霧朝著所述加熱汽化管的出口端橫穿所述管腔時汽化所述液體樣品內的溶劑分子和樣品分子的至少一部分；

當汽化的溶劑分子和樣品分子中的至少一種離開所述加熱汽化管的所述出口端而進入到電離室中時對其施加電荷，使得電離所述電離室內的所述樣品分子；以及

將電離的樣品分子從所述電離室傳輸到質譜儀的采樣孔中；

對所述電離的樣品分子進行質譜分析。

13.根據權利要求12所述的方法，其中所述電離室基本上維持在大氣壓下。

14.根據權利要求12所述的方法，其中當所述樣品噴霧離開所述采樣探頭時，所述樣品噴霧的所述中心軸與所述中心縱軸偏移并與其基本上平行。