[發明專利]粒子檢測傳感器

有效

• 申請號: 201880055186.7
• 申請日: 2018-07-20
• 公開（公告）號: CN111051851B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 永谷吉祥;中川貴司;川人圭子;安池則之
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N15/14;G01N21/03;G01N21/47
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

對測量對象中包含的多個粒子進行檢測的粒子檢測傳感器(1)，具備：投光部(20)，向檢測區域(DA)射出光；受光部(30)，在作為多個粒子的至少一個的對象粒子通過檢測區域(DA)的情況下，接受由該對象粒子產生的光的散射光；殼體(10)，容納投光部(20)以及受光部(30)，在內部具有檢測區域(DA)；以及信號處理電路(50)，信號處理電路(50)，獲得多個粒子沒有通過檢測區域(DA)時由受光部(30)接受的漫射光的受光強度的隨時間的變化量，根據獲得的隨時間的變化量，校正散射光的受光強度，根據校正后的散射光的受光強度，將對象粒子分類為多個粒子尺寸的任一個，并且，確定檢測出的對象粒子的個數，從而計算測量對象中包含的粒子的質量濃度。

技術領域

本發明涉及，粒子檢測傳感器。

背景技術

以往，具備投光元件以及受光元件，對測量對象中浮游的粒子進行檢測，計算測量對象中包含的粒子的質量濃度的光電式的粒子檢測傳感器為人所知(例如，參照專利文獻1)。光電式的粒子檢測傳感器，從投光元件向檢測區域射出光，在粒子通過檢測區域的情況下，由通過中的粒子產生的光的散射光由受光元件接受。根據散射光的受光強度求出粒子的大小，根據粒子的大小以及數量，計算測量對象中包含的粒子的質量濃度。

(現有技術文獻)

(專利文獻)

專利文獻1：日本特開2015-210183號公報

然而，根據所述以往技術，粒子檢測傳感器的內部弄臟，例如，在粒子附著在投光元件以及受光元件的至少一方的情況下，本來應該向檢測區域照射的光、以及本來應該向受光元件入射的散射光，由附著的粒子阻礙，分別減少。并且，也會有因附著的粒子而散射的光，且本來不應該向受光元件入射的光入射到受光元件的情況。在任何情況下，都成為粒子的大小的誤檢測的原因，檢測準確度降低。

發明內容

于是，本發明的目的在于，提供能夠高準確度地檢測粒子的大小，能夠高準確度地計算測量對象中包含的粒子的質量濃度的粒子檢測傳感器。

為了實現所述目的，本發明的一個形態涉及的粒子檢測傳感器，對測量對象中包含的多個粒子進行檢測，具備：投光部，向檢測區域射出光；受光部，在對象粒子通過所述檢測區域的情況下，接受由該對象粒子產生的所述光的散射光，所述對象粒子是所述多個粒子的至少一個；殼體，容納所述投光部以及所述受光部，在內部具有所述檢測區域；以及信號處理電路，所述信號處理電路，獲得所述多個粒子沒有通過所述檢測區域時由所述受光部接受的漫射光的受光強度的隨時間的變化量，根據獲得的隨時間的變化量，校正所述散射光的受光強度，根據校正后的所述散射光的受光強度，將所述對象粒子分類為多個粒子尺寸的任一個，并且，確定檢測出的對象粒子的個數，從而計算所述測量對象中包含的粒子的質量濃度。

根據本發明涉及的粒子檢測傳感器，即使在因經過時間而粒子檢測傳感器的內部弄臟的狀態下，也能夠高準確度地檢測粒子的大小，能夠高準確度地計算測量對象中包含的粒子的質量濃度。

附圖說明

圖1是實施方式涉及的粒子檢測傳感器的斜視圖。

圖2是實施方式涉及的打開粒子檢測傳感器的蓋子時的斜視圖。

圖3是實施方式涉及的粒子檢測傳感器的截面圖。

圖4是用于說明實施方式涉及的粒子檢測傳感器的工作的放大截面圖。

圖5是示出圖4示出的工作中從受光元件輸出的電信號的圖。

圖6是用于說明實施方式涉及的粒子檢測傳感器的每個粒子的尺寸的分類的圖。

圖7是實施方式涉及的由粒子檢測傳感器檢測出的粒子的直方圖。

圖8是用于說明實施方式涉及的粒子附著在粒子檢測傳感器的投光部以及受光部時的工作的放大截面圖。