[發(fā)明專利]粒子檢測(cè)系統(tǒng)以及粒子檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880055079.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111051853B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安池則之;中川貴司;川人圭子;永谷吉祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N15/06 | 分類(lèi)號(hào): | G01N15/06;F24F7/007;G01N21/47 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 粒子 檢測(cè) 系統(tǒng) 以及 方法 | ||
1.一種粒子檢測(cè)系統(tǒng),具備:
光散射式的粒子檢測(cè)傳感器,檢測(cè)氣體中包含的粒子;
溫度傳感器,檢測(cè)所述氣體的溫度;以及
控制器,
所述控制器,將從所述粒子檢測(cè)傳感器輸出的傳感器輸出值與依賴于所述溫度傳感器檢測(cè)出的溫度的換算系數(shù)相乘,由此計(jì)算所述氣體中包含的粒子的質(zhì)量濃度,
其中,所述控制器,在將所述溫度傳感器檢測(cè)出的溫度設(shè)為t,將所述傳感器輸出值設(shè)為X,將所述質(zhì)量濃度設(shè)為Y,將預(yù)先決定的常數(shù)設(shè)為A以及B時(shí),
根據(jù)由Y=(At+B)X表示的算式,計(jì)算所述質(zhì)量濃度。
2.如權(quán)利要求1所述的粒子檢測(cè)系統(tǒng),
所述粒子檢測(cè)傳感器,具備:
投光元件,向檢測(cè)區(qū)域射出光;
受光元件,接受由通過(guò)所述檢測(cè)區(qū)域的粒子產(chǎn)生的所述光的散射光;
殼體,容納所述投光元件以及所述受光元件,在內(nèi)部具有所述檢測(cè)區(qū)域;以及
信號(hào)處理電路,根據(jù)所述散射光的受光強(qiáng)度,計(jì)算所述氣體中包含的粒子的質(zhì)量濃度的實(shí)測(cè)值,將計(jì)算出的實(shí)測(cè)值作為所述傳感器輸出值輸出。
3.如權(quán)利要求2所述的粒子檢測(cè)系統(tǒng),
所述投光元件是發(fā)光二極管。
4.如權(quán)利要求1所述的粒子檢測(cè)系統(tǒng),
所述控制器具有存儲(chǔ)器,
在所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有,在所述傳感器輸出值和所述溫度傳感器檢測(cè)出的溫度被輸入的情況下,輸出所述質(zhì)量濃度的運(yùn)算程序,
所述控制器,從所述存儲(chǔ)器讀出并執(zhí)行所述運(yùn)算程序,從而計(jì)算所述質(zhì)量濃度。
5.如權(quán)利要求1所述的粒子檢測(cè)系統(tǒng),
所述粒子檢測(cè)系統(tǒng)還具備換氣裝置,所述換氣裝置具有面向室外的吸入口以及面向室內(nèi)的排出口,經(jīng)由所述吸入口從所述室外捕獲所述氣體,將捕獲的所述氣體,經(jīng)由所述排出口向所述室內(nèi)排出,
所述粒子檢測(cè)傳感器,被設(shè)置在所述吸入口。
6.一種粒子檢測(cè)方法,
獲得從檢測(cè)氣體中包含的粒子的光散射式的粒子檢測(cè)傳感器輸出的傳感器輸出值,
從溫度傳感器獲得所述氣體的溫度,
將所述傳感器輸出值與依賴于所述溫度的換算系數(shù)相乘,由此計(jì)算所述氣體中包含的粒子的質(zhì)量濃度,
在將所述溫度傳感器檢測(cè)出的溫度設(shè)為t,將所述傳感器輸出值設(shè)為X,將所述質(zhì)量濃度設(shè)為Y,將預(yù)先決定的常數(shù)設(shè)為A以及B時(shí),根據(jù)由Y=(At+B)X表示的算式,計(jì)算所述質(zhì)量濃度。
7.一種程序記錄介質(zhì),
用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求6所述的粒子檢測(cè)方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社,未經(jīng)松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880055079.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
- 凈水濾芯以及凈水裝置、以及洗漱臺(tái)
- 隱匿檢索系統(tǒng)以及公開(kāi)參數(shù)生成裝置以及加密裝置以及用戶秘密密鑰生成裝置以及查詢發(fā)布裝置以及檢索裝置以及計(jì)算機(jī)程序以及隱匿檢索方法以及公開(kāi)參數(shù)生成方法以及加密方法以及用戶秘密密鑰生成方法以及查詢發(fā)布方法以及檢索方法
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 圖片顯示方法以及裝置以及移動(dòng)終端
- ENB以及UEUL發(fā)送以及接收的方法
- X射線探測(cè)方法以及裝置以及系統(tǒng)
- 圖書(shū)信息錄入方法以及系統(tǒng)以及書(shū)架
- 護(hù)耳器以及口罩以及眼鏡





