[發明專利]具有用于負載測量的壓電阻層的引導滑座有效
| 申請號: | 201880054644.5 | 申請日: | 2018-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN110945333B | 公開(公告)日: | 2021-12-21 |
| 發明(設計)人: | J.米爾費爾德;M.科巴歇爾;G.羅伊辛格;M.施托克;S.多恩 | 申請(專利權)人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | G01L5/00 | 分類號: | G01L5/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 梁冰;陳浩然 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 用于 負載 測量 壓電 引導 | ||
1.用于與引導軌道(12)一起使用的引導滑座(20),其中,所述引導滑座(20)包括主體(21)和至少一個單獨的滾道嵌件(30),其中,在所述滾道嵌件(30)的基體(31)上布置有至少一個平行于縱軸線(11)延伸的滑座滾道(32),其中,一排滾動體(22)分別配設于至少一個滑座滾道(32),所述滾動體能夠與相關的滑座滾道(32)和所述引導軌道(12)上的所配設的軌道滾道(13)置于滾動接合,其中,所述基體(31)具有至少一個支撐面(33),所述基體通過所述支撐面至少間接地以力傳遞的方式支撐在所述主體(21)上,
其特征在于,壓電阻層(50)配設于至少一個支撐面(33),該壓電阻層在面積上在相關的支撐面(33)的至少50%上延伸,其中該壓電阻層布置在相關的基體(31)和所述主體(21)之間,其中該壓電阻層與不帶有所述壓電阻層(50)的滾道嵌件(30)材料鎖合地連接,其中至少一個導電電極(51)配設于該壓電阻層(50),該導電電極直接材料鎖合地與所述壓電阻層(50)連接,其中設置有如下測量組件(70),借助該測量組件能夠測量與壓電阻層在至少一個電極的區域中的歐姆電阻相關的測量參量。
2.根據權利要求1所述的引導滑座,其中,至少一個電極(51)的最大寬度(52)小于所配設的滾動體(22)的直徑(24)。
3.根據權利要求1或2所述的引導滑座,其中,所述壓電阻層(50)直接材料鎖合地與所配設的支撐面(33)連接,其中,相關的至少一個電極(51)布置在所述壓電阻層(50)和所述主體(21)之間。
4.根據權利要求3所述的引導滑座,其中,所述支撐面(33)具有小于0.25μm的平均粗糙度。
5.根據權利要求1或2所述的引導滑座,其中,導電的接地層配設于所述壓電阻層(50),該接地層在整個壓電阻層(50)上延伸,其中,該接地層直接材料鎖合地與該壓電阻層連接,其中,所述至少一個電極(51)和所述接地層布置在所述壓電阻層(50)的對置的側面上。
6.根據權利要求5所述的引導滑座,其中,所述測量組件(70)電連接到所述基體(31)或所述接地層上。
7.根據權利要求1或2所述的引導滑座,其中,所述至少一個電極(51)包括至少一個第一電極(53),所述第一電極布置在所述支撐面(33)的區域中。
8.根據權利要求7所述的引導滑座,其中,設置有多個第一電極(53),所述第一電極沿著縱軸線(11)分布布置。
9.根據權利要求8所述的引導滑座,其中,每個支撐面(33)限定如下中軸線(34),所述中軸線平行于所述縱軸線(11)延伸,其中,至少一個第一電極(53)關于相關的中軸線(34)偏心地布置。
10.根據權利要求9所述的引導滑座,其中,所述壓電阻層(50)延伸超過所配設的支撐面(33),其中,所述至少一個電極(51)包括第二電極(54),所述第二電極布置在所述支撐面(33)旁邊。
11.根據權利要求10所述的引導滑座,其中,所述至少一個滾道嵌件(30)具有至少一個不支撐在主體上的滾入區域(36),該滾入區域布置在滾道嵌件(30)的沿縱軸線(11)的方向指向的端部上,從而使得所述滾道嵌件(30)在滾動體(22)的負載下能夠在所述滾入區域(36)中彎曲,其中,所述壓電阻層(50)延伸到所述滾入區域(36)中,其中,所述第二電極(54)布置在所述滾入區域(36)中。
12.根據權利要求10或11所述的引導滑座,其中,借助于所述測量組件(70)能夠分別將第一電極(53)和第二電極(54)串聯。
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