[發明專利]用于圖像偽影消除的系統、方法和裝置在審
| 申請號: | 201880052882.2 | 申請日: | 2018-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN111226259A | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發明(設計)人: | 王守罡;J-L·F-M·羅伯特;H·劉;F·H·范黑施;G·H·M·海斯貝斯;J·E·迪安;E·萊維 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/50 | 分類號: | G06T5/50 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 孟杰雄 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 圖像 消除 系統 方法 裝置 | ||
1.一種超聲成像系統,包括:
至少一個超聲探頭,其被配置為獲得至少兩幅體積圖像,其中,所述體積圖像包括坐標位置并且每幅體積圖像是從至少一個不同坐標位置獲得的;以及
至少一個處理器,其被配置為:
接收所述體積圖像;
基于所述體積圖像的所述坐標位置來對準所述體積圖像;
對經對準的體積圖像進行平均以創建組合圖像;
估計所述經對準的體積圖像之間的差異,所述差異表示混響偽影;并且
從所述組合圖像移除所估計的差異,從而減少所述混響偽影。
2.根據權利要求1所述的超聲成像系統,其中,所述差異包括所述第一體積圖像與所述第二體積圖像之間的差異的絕對值。
3.根據權利要求1所述的超聲成像系統,其中,所述平均包括獲得所述體積圖像的平均值。
4.根據權利要求1所述的超聲成像系統,還包括探頭配準器,所述探頭配準器被配置為確定所述至少一個超聲探頭的位置以便確定所述體積圖像的所述坐標位置。
5.根據權利要求4所述的超聲成像系統,其中,所述探頭配準器包括以下中的至少一項:電磁跟蹤系統、機器人臂和光學檢測系統。
6.根據權利要求1所述的超聲成像系統,其中,所述至少一個超聲探頭通過以下中的至少一項保持就位:機械臂和粘合劑。
7.根據權利要求1所述的超聲成像系統,其中,所述至少一個處理器還被配置為:
至少部分地基于所述體積圖像所共有的至少三個點來計算變換矩陣;并且
至少部分地基于所述變換矩陣來對準所述體積圖像。
8.根據權利要求7所述的超聲成像系統,其中,所述至少三個點是由所述處理器基于特征識別選擇的。
9.根據權利要求7所述的超聲成像系統,其中,所述至少三個點是由所述處理器基于基準選擇的。
10.根據權利要求7所述的超聲成像系統,其中,所述至少三個點是由用戶選擇的。
11.根據權利要求1所述的超聲成像系統,其中,所述超聲成像系統包括外部控制單元,所述外部控制單元被配置為控制所述至少一個超聲探頭。
12.一種減少混響偽影的方法,包括:
接收對象內的物體的至少兩幅體積圖像,其中,所述體積圖像包括坐標位置并且每幅體積圖像是從至少一個不同坐標位置獲得的;
基于所述體積圖像的所述坐標位置來對準第一體積圖像與第二體積圖像;
對經對準的體積圖像進行平均以創建組合圖像;
估計所述經對準的體積圖像之間的差異,所述差異表示混響偽影;并且
從所述組合圖像移除所估計的差異,從而減少所述混響偽影。
13.根據權利要求12所述的方法,其中,估計所述差異包括所述第一體積圖像與所述第二體積圖像之間的差異的絕對值。
14.根據權利要求12所述的方法,其中,平均包括獲得所述體積圖像的平均值。
15.根據權利要求12所述的方法,其中,對準所述第一體積圖像與所述第二體積圖像包括計算變換矩陣,其中,所述變換矩陣是使用所述第一體積圖像或者所述第二體積圖像作為參考體積圖像來計算的。
16.根據權利要求12所述的方法,其中,對準所述第一體積圖像與所述第二體積圖像包括計算變換矩陣,其中,所述變換矩陣是使用第三體積作為參考體積圖像來計算的。
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