[發明專利]用于工件上的加工點的定位裝置

在審

• 申請號: 201880050320.4
• 申請日: 2018-06-18
• 公開（公告）號: CN111093902A
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發明（設計）人: 安德烈亞斯·斯滕羅特
• 申請（專利權）人: 巖根公司
• 主分類號: B25H7/00
• 分類號: B25H7/00;G01B11/14;G01B7/14;G01B5/00;B23K37/02;B23Q3/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 石磊

1.一種用于確定細長的工件上的位置并且能在所述工件上手動地移動的裝置(100)，其特征在于，所述裝置(100)包括：

-框架(102)，能在第一方向上移動，優選地在所述工件的縱向方向上移動，因此在該方向上在所述工件上移動整個裝置(102)，

-定位器件(106)，用于相對于所述工件的側面定位所述框架(102)，其中，所述定位器件(106)固定所述框架(102)，使得所述框架(102)不在第二方向上移動，但是使得所述框架(102)能在所述工件的縱向方向上移動，

-可移動器件(104)，能在所述第二方向上移動，優選地在相對于所述工件和相對于所述框架(102)的橫向方向上移動，

-測量點(108)，在所述第一方向和所述第二方向上的移動用于在這些方向上移動所述測量點(108)，

-測量設備(110a、110b、110c)，用于確定所述測量點(108)在相對于所述工件的橫向和縱向上的位置。

2.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中，所述測量設備(110a、110b、110c)包括至少一個激光測距儀，以用于測量到參考點的縱向距離，該參考點例如為細長的所述工件的一端。

3.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中，所述測量設備(110a、110b、110c)包括至少兩個激光測距儀，以用于測量到優選地在所述框架的相對側上的兩個參考點的距離。

4.根據任何前述權利要求任一項1所述的裝置(100)，所述裝置(100)還包括：第二可移動器件(109)，用于相對于所述工件垂直地移動所述測量點。

5.根據前述權利要求中任一項所述的裝置(100)，其中，所述測量設備(110a、110b、110c、110d、110e)包括用于測量在所述第二方向上的運動的光學傳感器，所述光學傳感器通過與所述可移動器件(104)一起在所述橫向方向上相對于所述裝置(100)的框架(102)的表面和/或所述工件的表面線性移動來檢測距離。

6.根據前述權利要求中任一項所述的裝置(100)，其中，所述測量設備(110a，110b，110c，110d，110e)包括用于測量在所述第二方向上的運動的磁傳感器(110d)，所述磁傳感器(110d)通過與所述可移動器件(104)一起在所述橫向方向上相對于所述裝置(100)的框架(102)上的磁條且與所述磁條相關地線性移動來檢測距離。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的裝置(100)，其中，所述測量設備(110a、110b、110c、110d、110e)包括用于測量在所述第二方向上的運動的光學傳感器，所述光學傳感器檢測用于移動所述可移動器件(104)的導螺桿或驅動螺桿的旋轉運動的距離。

8.根據前述權利要求中任一項所述的裝置(100)，其中，所述裝置(100)包括用于將工具附接到所述框架(102)的附接器件(112)。

9.根據權利要求8所述的裝置(100)，其中，所述附接器件(112)包括用于工具的托架。

10.根據權利要求8所述的裝置(100)，其中，所述附接器件(112)包括托架和帶附接器件(114)，以便于對磁鉆的夾持支撐。

11.根據權利要求8所述的裝置(100)，其中，所述托架包括滾動球體單元(120)，以便于所述工件和所述托架上的所述工具之間的運動傳遞和負載傳遞。

12.根據前述權利要求中任一項所述的裝置(100)，其中，所述測量點(108)包括中心沖頭和/或允許使用中心沖頭，優選地穿過孔的中心沖頭。