[發(fā)明專利]具有多種檢測能力的集成樣品處理系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880049114.1 | 申請日: | 2018-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN110959185B | 公開(公告)日: | 2023-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 阿倫·胡德松;水谷高雪;蘇巴西什·普爾卡亞斯塔;托馬斯·W·羅斯科 | 申請(專利權(quán))人: | 拜克門寇爾特公司;DH科技發(fā)展私人貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號: | H01J49/04 | 分類號: | H01J49/04;G01N33/68;G01N35/10 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 陳煒;楊林森 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 多種 檢測 能力 集成 樣品 處理 系統(tǒng) | ||
1.一種樣品處理系統(tǒng),包括:
分析器,所述分析器包括免疫分析器或化學(xué)分析器;
質(zhì)譜儀;
至少一個樣品制備站,所述至少一個樣品制備站用于接收初級樣品并且可操作以將來自所述初級樣品的第一樣品等分試樣分配到第一反應(yīng)容器以進(jìn)行處理以產(chǎn)生第一處理樣品以供所述分析器分析,并且將第二樣品等分試樣分配到第二反應(yīng)容器以進(jìn)行處理以產(chǎn)生第二處理樣品以供所述質(zhì)譜儀分析;
所述分析器被配置為從所述至少一個樣品制備站接收所述第一處理樣品,并且對所述第一處理樣品執(zhí)行初級分析;
至少一個樣品引入設(shè)備,所述至少一個樣品引入設(shè)備用于從所述第二處理樣品等分試樣接收所述第二處理樣品,并且將所述第二處理樣品轉(zhuǎn)移到所述質(zhì)譜儀以進(jìn)行質(zhì)量分析;
控制系統(tǒng),所述控制系統(tǒng)被配置為控制所述至少一個樣品制備站以將所述初級樣品處理成所述第一處理樣品和所述第二處理樣品,以使所述分析器從所述第一樣品等分試樣接收所述第一處理樣品并且對所述第一處理樣品執(zhí)行初級分析,使所述至少一個樣品引入設(shè)備從所述第二樣品等分試樣接收所述第二處理樣品并且將所述第二處理樣品轉(zhuǎn)移到所述質(zhì)譜儀,并且使所述質(zhì)譜儀對所述第二處理樣品執(zhí)行質(zhì)量分析,以檢測所述第二處理樣品中特定分析物的存在、不存在和/或數(shù)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述至少一個樣品制備站包括用于與所述分析器一起使用的第一樣品制備站以及用于與所述質(zhì)譜儀一起使用的第二樣品制備站。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述第一處理樣品在存在發(fā)光或熒光標(biāo)簽的情況下制備以結(jié)合到分析物分子,并且其中所述分析器還包括光學(xué)檢測站,用于通過檢測由所述標(biāo)簽產(chǎn)生的光來檢測所述分析物分子。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述至少一個樣品制備站包括:
樣品展示單元,所述樣品展示單元被配置為保持各自容納所述初級樣品的多個樣品管;和
等分試樣站,所述等分試樣站被配置為將來自所選樣品管的樣品的一部分等分成所述第一樣品等分試樣和所述第二樣品等分試樣,所述等分試樣站包括:至少一個移液器;用于保持至少第一試劑包和第二試劑包的裝置,所述第一試劑包包含用于由所述分析器執(zhí)行免疫測定或化學(xué)測定的試劑,所述第二試劑包包含用于由所述質(zhì)譜儀執(zhí)行質(zhì)量分析的試劑;以及用于將試劑從所述第一試劑包轉(zhuǎn)移到所述第一樣品等分試樣的裝置和用于將試劑從所述第二試劑包轉(zhuǎn)移到所述第二樣品等分試樣的裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述第一試劑包和所述第二試劑包中的至少一個包含試劑,所述試劑包含選自質(zhì)量標(biāo)簽、發(fā)光標(biāo)簽、化學(xué)發(fā)光標(biāo)簽、電化學(xué)發(fā)光標(biāo)簽、熒光標(biāo)簽、放射性標(biāo)簽、同位素標(biāo)簽或DNA標(biāo)簽的標(biāo)簽。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述至少一個樣品引入設(shè)備包括小體積阱和洗脫系統(tǒng),所述小體積阱和洗脫系統(tǒng)可操作以在洗脫到所述質(zhì)譜儀中之前濃縮所關(guān)注的分析物;以及微分遷移光譜儀,所述微分遷移光譜儀用于在電離之后但在通過所述質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量分析之前分離同質(zhì)異位或同分異構(gòu)化合物。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述至少一個樣品引入設(shè)備包括用于從所述第二樣品等分試樣接收所述第二處理樣品的開放端口采樣接口。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品處理系統(tǒng),其中所述質(zhì)量分析包括次級分析,并且其中所述控制系統(tǒng)進(jìn)一步可操作以從所述初級分析確定所述第一處理樣品中的分析物的濃度是低于、高于還是等于預(yù)定閾值,并且基于所述確定:
使所述至少一個樣品制備站產(chǎn)生所述第二處理樣品,使所述樣品引入設(shè)備將所述第二處理樣品轉(zhuǎn)移到所述質(zhì)譜儀,
使所述質(zhì)譜儀執(zhí)行次級分析以檢測和/或定量所述第二處理樣品中的所述分析物或另一種分析物;并且
基于所述初級分析和所述次級分析中的至少一個生成報告。
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