[發明專利]基于頜表面的配準

有效

• 申請號: 201880048016.6
• 申請日: 2018-07-17
• 公開（公告）號: CN110913789B
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: D·德克爾;A·卡齊
• 申請（專利權）人: 克拉洛納夫公司
• 主分類號: A61B34/20
• 分類號: A61B34/20;A61B34/10;A61B6/03;A61C19/04
• 代理公司: 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587
• 代理人: 李潔;董江虹

1.一種用于將人類頜與定位在圖像參考坐標系中并且存儲在計算機可讀存儲器中的該頜的體積計算機斷層攝影圖像配準的方法，所述方法包括：

將姿勢可追蹤的頜標記剛性地附接到所述頜或與所述頜成剛性幾何關系的結構，以建立姿勢可追蹤的頜參考坐標系；

使姿勢可追蹤的表面采樣工具在所述頜的表面的至少一部分之上移動，同時操作姿勢追蹤系統和計算機處理器以記錄所述頜參考坐標系中指示在所述頜的表面的所述至少一部分內的位置的樣本；

操作計算機處理器以確定近似初始配準映射；然后

從所述近似初始配準映射開始，操作所述計算機處理器以通過以下方式遞增地調整所述配準映射：

i)使用所述配準映射將所述樣本映射到所述圖像參考坐標系，以提供映射的樣本位置，

ii)對于每個映射的樣本位置，基于對從所述映射的樣本位置導出的多個圖像位置處的圖像值的分析來計算邊緣接近度值，以及

iii)基于所述映射的樣本位置處的邊緣接近度值來調整所述配準映射。

2.根據權利要求1所述的方法，其中計算所述邊緣接近度值包括計算所述多個圖像位置處的圖像梯度。

3.根據權利要求1和2中任一項所述的方法，其中計算所述邊緣接近度值包括：

分析從所述映射的樣本位置導出的多個圖像位置處的圖像值，以選擇圖像位置；以及

計算從所選擇的圖像位置到從所述映射的樣本位置導出的另一個圖像位置的距離。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中所述姿勢可追蹤的表面采樣工具包括口內掃描儀。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中所述姿勢可追蹤的表面采樣工具是具有已知形狀的追蹤器末端的姿勢可追蹤的追蹤器工具，并且使表面采樣工具移動包括在所述頜的表面的至少一部分之上拖曳所述追蹤器末端，使得所述追蹤器末端接觸所述頜的表面。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其中：

所述方法還包括在所述圖像參考坐標系和所述頜參考坐標系二者中標記至少一個對應的位置；以及

確定近似初始配準映射包括：

基于根據所述頜相對于所述頜標記的已知定向估計所述頜在所述頜參考坐標系中的定向，來計算初始旋轉映射；以及

基于所述初始旋轉映射和所述至少一個對應的位置來計算所述初始配準映射。

7.根據權利要求6所述的方法，當權利要求6從屬于權利要求4時，其中：

所述方法還包括在所述圖像上標記頜表面上的至少一個地標位置；

定位所述口內掃描儀，使得在所述口內掃描儀的捕獲區域內的已知位置大致對應于在所述圖像上標記的地標位置，并且獲得在所述捕獲區域內的所述已知位置處的樣本位置；以及

確定近似初始配準映射是至少部分地基于在所述圖像上標記的所述至少一個地標位置與在所述捕獲區域內的所述已知位置處的所述樣本位置之間的對應。

8.根據權利要求6所述的方法，其中：

所述方法還包括在所述圖像上標記頜表面上的至少一個地標位置；

使所述姿勢可追蹤的表面采樣工具在所述頜的表面的至少一部分之上移動開始于對應于在所述圖像上標記的地標位置的位置；以及

確定近似初始配準映射是至少部分地基于在所述圖像上標記的所述至少一個地標位置與在開始使所述姿勢可追蹤的表面采樣工具移動時記錄的樣本位置之間的對應。

9.根據權利要求6所述的方法，其中

所述方法還包括在所述圖像上標記頜表面上的至少一個地標位置；

使所述姿勢可追蹤的表面采樣工具在所述頜的表面的至少一部分之上移動結束于對應于在所述圖像上標記的地標位置的位置；以及

確定近似初始配準映射是至少部分地基于在所述圖像上標記的所述至少一個地標位置與在結束使所述姿勢可追蹤的表面采樣工具移動時記錄的樣本位置之間的對應。