[發(fā)明專利]用于識別關(guān)于基于模型的控制器性能的可變性或控制偏差的影響和原因的裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880047121.8 | 申請日： | 2018-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN110914776B | 公開（公告）日： | 2022-08-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 安德魯·約翰·特倫查德;桑杰·K·戴夫;克里斯托弗·J·韋伯;邁克爾·涅梅茨;芒達(dá)爾·瓦爾塔;斯里蘭·哈利霍爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 陳嵐 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 識別 關(guān)于 基于 模型 控制器 性能 可變性 控制 偏差 影響 原因 裝置 方法 | ||
1.一種方法，包括：
獲得(504)識別與工業(yè)過程控制器(106)相關(guān)聯(lián)的一個或多個受控變量的值的數(shù)據(jù)；
識別(506)所述一個或多個受控變量中的至少一個受控變量已被所述控制器移動到相關(guān)聯(lián)限制時的周期；
針對每個所識別周期，(i)識別(510)所述相關(guān)聯(lián)受控變量的預(yù)測值的標(biāo)準(zhǔn)差，以及(ii)基于所述標(biāo)準(zhǔn)差確定(512)所述相關(guān)聯(lián)受控變量的控制偏差值，所述控制偏差值與所述相關(guān)聯(lián)受控變量的平均值和所述相關(guān)聯(lián)限制之間的偏移相關(guān)聯(lián)；
使用所述控制偏差值識別(516)所述一個或多個受控變量的方差；以及
生成(520)識別所述方差中的至少一些方差的一個或多個影響或原因的圖形顯示(1100,1200,1300)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：
在識別所述周期之前驗證(504)所述獲得的數(shù)據(jù)；
其中驗證所述獲得的數(shù)據(jù)包括移除所述數(shù)據(jù)中被視為無效的一部分。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中驗證所述獲得的數(shù)據(jù)包括使用與所述控制器相關(guān)聯(lián)的優(yōu)化器所生成的預(yù)測來識別有效或無效數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中識別所述周期包括當(dāng)受控變量的值處于所述相關(guān)聯(lián)限制時，將周期的開始識別為第一時間或間隔；以及
當(dāng)所述受控變量的所述值不處于所述相關(guān)聯(lián)限制時，將所述周期的結(jié)束識別為第一時間或間隔。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：
確定(538)所述方差中的所述至少一些方差的所述一個或多個影響或原因。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述一個或多個影響或原因是基于所述控制偏差值與基準(zhǔn)控制偏差值的比較來確定的。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中確定所述一個或多個影響或原因包括：
識別與所述一個或多個受控變量中的每一個受控變量相關(guān)聯(lián)的多個自變量；以及
識別所述自變量中的每一個自變量的標(biāo)準(zhǔn)差，每個標(biāo)準(zhǔn)差表示所述自變量對所述相關(guān)聯(lián)受控變量的所述方差的貢獻(xiàn)的量度。
8.一種裝置，包括：
至少一個界面(206)，所述至少一個界面被配置為接收識別與工業(yè)過程控制器(106)相關(guān)聯(lián)的一個或多個受控變量的值的數(shù)據(jù)；以及
至少一個處理器(202)，所述至少一個處理器被配置為：
識別所述一個或多個受控變量中的至少一個受控變量已被所述控制器移動到相關(guān)聯(lián)限制時的周期；
針對每個所識別周期，(i)識別所述相關(guān)聯(lián)受控變量的預(yù)測值的標(biāo)準(zhǔn)差，以及(ii)基于所述標(biāo)準(zhǔn)差確定所述相關(guān)聯(lián)受控變量的控制偏差值，所述控制偏差值與所述相關(guān)聯(lián)受控變量的平均值和所述相關(guān)聯(lián)限制之間的偏移相關(guān)聯(lián)；
使用所述控制偏差值識別所述一個或多個受控變量的方差；并且
生成識別所述方差中的至少一些方差的一個或多個影響或原因的圖形顯示(1100,1200,1300)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其中：
所述至少一個處理器被配置為在識別所述周期之前驗證所述數(shù)據(jù)；并且
為了驗證所述數(shù)據(jù)，所述至少一個處理器被配置為移除所述數(shù)據(jù)中被視為無效的一部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中為了驗證所述數(shù)據(jù)，所述至少一個處理器被配置為使用與所述控制器相關(guān)聯(lián)的優(yōu)化器所生成的預(yù)測來識別有效或無效數(shù)據(jù)。
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