[發(fā)明專(zhuān)利]用于識(shí)別關(guān)于基于模型的控制器性能的可變性或控制偏差的影響和原因的裝置和方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201880047121.8
• 申請(qǐng)日: 2018-06-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110914776B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安德魯·約翰·特倫查德;桑杰·K·戴夫;克里斯托弗·J·韋伯;邁克爾·涅梅茨;芒達(dá)爾·瓦爾塔;斯里蘭·哈利霍爾
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 霍尼韋爾國(guó)際公司
• 主分類(lèi)號(hào): G05B23/02
• 分類(lèi)號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 中國(guó)專(zhuān)利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 陳嵐

1.一種方法，包括：

獲得(504)識(shí)別與工業(yè)過(guò)程控制器(106)相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)受控變量的值的數(shù)據(jù)；

識(shí)別(506)所述一個(gè)或多個(gè)受控變量中的至少一個(gè)受控變量已被所述控制器移動(dòng)到相關(guān)聯(lián)限制時(shí)的周期；

針對(duì)每個(gè)所識(shí)別周期，(i)識(shí)別(510)所述相關(guān)聯(lián)受控變量的預(yù)測(cè)值的標(biāo)準(zhǔn)差，以及(ii)基于所述標(biāo)準(zhǔn)差確定(512)所述相關(guān)聯(lián)受控變量的控制偏差值，所述控制偏差值與所述相關(guān)聯(lián)受控變量的平均值和所述相關(guān)聯(lián)限制之間的偏移相關(guān)聯(lián)；

使用所述控制偏差值識(shí)別(516)所述一個(gè)或多個(gè)受控變量的方差；以及

生成(520)識(shí)別所述方差中的至少一些方差的一個(gè)或多個(gè)影響或原因的圖形顯示(1100,1200,1300)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

在識(shí)別所述周期之前驗(yàn)證(504)所述獲得的數(shù)據(jù)；

其中驗(yàn)證所述獲得的數(shù)據(jù)包括移除所述數(shù)據(jù)中被視為無(wú)效的一部分。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中驗(yàn)證所述獲得的數(shù)據(jù)包括使用與所述控制器相關(guān)聯(lián)的優(yōu)化器所生成的預(yù)測(cè)來(lái)識(shí)別有效或無(wú)效數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中識(shí)別所述周期包括當(dāng)受控變量的值處于所述相關(guān)聯(lián)限制時(shí)，將周期的開(kāi)始識(shí)別為第一時(shí)間或間隔；以及

當(dāng)所述受控變量的所述值不處于所述相關(guān)聯(lián)限制時(shí)，將所述周期的結(jié)束識(shí)別為第一時(shí)間或間隔。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

確定(538)所述方差中的所述至少一些方差的所述一個(gè)或多個(gè)影響或原因。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述一個(gè)或多個(gè)影響或原因是基于所述控制偏差值與基準(zhǔn)控制偏差值的比較來(lái)確定的。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中確定所述一個(gè)或多個(gè)影響或原因包括：

識(shí)別與所述一個(gè)或多個(gè)受控變量中的每一個(gè)受控變量相關(guān)聯(lián)的多個(gè)自變量；以及

識(shí)別所述自變量中的每一個(gè)自變量的標(biāo)準(zhǔn)差，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差表示所述自變量對(duì)所述相關(guān)聯(lián)受控變量的所述方差的貢獻(xiàn)的量度。

8.一種裝置，包括：

至少一個(gè)界面(206)，所述至少一個(gè)界面被配置為接收識(shí)別與工業(yè)過(guò)程控制器(106)相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)受控變量的值的數(shù)據(jù)；以及

至少一個(gè)處理器(202)，所述至少一個(gè)處理器被配置為：

識(shí)別所述一個(gè)或多個(gè)受控變量中的至少一個(gè)受控變量已被所述控制器移動(dòng)到相關(guān)聯(lián)限制時(shí)的周期；

針對(duì)每個(gè)所識(shí)別周期，(i)識(shí)別所述相關(guān)聯(lián)受控變量的預(yù)測(cè)值的標(biāo)準(zhǔn)差，以及(ii)基于所述標(biāo)準(zhǔn)差確定所述相關(guān)聯(lián)受控變量的控制偏差值，所述控制偏差值與所述相關(guān)聯(lián)受控變量的平均值和所述相關(guān)聯(lián)限制之間的偏移相關(guān)聯(lián)；

使用所述控制偏差值識(shí)別所述一個(gè)或多個(gè)受控變量的方差；并且

生成識(shí)別所述方差中的至少一些方差的一個(gè)或多個(gè)影響或原因的圖形顯示(1100,1200,1300)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其中：

所述至少一個(gè)處理器被配置為在識(shí)別所述周期之前驗(yàn)證所述數(shù)據(jù)；并且

為了驗(yàn)證所述數(shù)據(jù)，所述至少一個(gè)處理器被配置為移除所述數(shù)據(jù)中被視為無(wú)效的一部分。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中為了驗(yàn)證所述數(shù)據(jù)，所述至少一個(gè)處理器被配置為使用與所述控制器相關(guān)聯(lián)的優(yōu)化器所生成的預(yù)測(cè)來(lái)識(shí)別有效或無(wú)效數(shù)據(jù)。