[發(fā)明專利]在光譜儀中為樣品提供尺寸可變的孔徑的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880046168.2 | 申請日: | 2018-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN110869724B | 公開(公告)日: | 2022-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | J·M·科芬 | 申請(專利權(quán))人: | 熱電科學儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G02B5/00;G01J3/02;G01J3/453 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 江漪 |
| 地址: | 美國威*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜儀 樣品 提供 尺寸 可變 孔徑 裝置 | ||
一種用于為成像裝置提供尺寸可變的孔徑的設(shè)備(19)包含第一板(22)和第二板(30),所述第一板具有延伸穿過所述第一板的第一多個板孔徑(24),所述第二板具有延伸穿過所述第二板的第二多個板孔徑(32)。第一電動機(20)可操作地連接到所述第一板,且第二電動機(26)可操作地連接到所述第二板。所述第一和第二電動機被配置成使所述第一板和所述第二板相對于彼此移動,以使所述第一多個板孔徑中的任一者與所述第二多個板孔徑中的任一者對準,以限定多個光束孔徑。
本申請要求2017年7月14日提交的美國臨時專利申請?zhí)?2/532,522的權(quán)益。本申請的內(nèi)容以全文引用的方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的各方面大體上涉及一種裝置,所述裝置提供用于通過紅外光譜分析樣品的尺寸可變的孔徑。
背景技術(shù)
研發(fā)出傅里葉變換紅外(FTIR)光譜測定法以解決色散光譜測定技術(shù)(尤其是緩慢掃描過程)的限制。使用FTIR,可用被稱為干涉儀的簡單光學裝置同時而不是分別測量所有紅外(IR)頻率。干涉儀產(chǎn)生唯一信號,所述信號含有在其內(nèi)“經(jīng)編碼”的所有IR頻率。可極快速地(例如在大約一秒內(nèi))測量這一信號,由此將每個樣品的時間元素減小到大約僅幾秒而不是幾分鐘。
大多數(shù)干涉計采用分束器,其接收進入的IR束且將其分成兩個光學束。一束由固定在適當位置的平面反射鏡反射。另一束由受控以在短距離(例如幾毫米)上來回移動的可移動平面反射鏡反射。所得的兩個反射束在其在分束器處匯合時重新組合。
當僅要分析樣品的一部分時,可以使用孔徑來控制紅外光束的尺寸和形狀。可以使用可變的孔徑,以便能夠改變孔徑的尺寸和形狀以對應(yīng)于要觀察的樣品區(qū)域的尺寸和形狀。一些裝置使用可變孔徑裝置,所述可變孔徑裝置包含由電動機和齒輪控制的四個夾鉗,所述四個夾鉗一起工作以提供具有變化的尺寸和形狀的孔徑。
希望提供一種裝置,所述裝置提供減少或克服先前已知過程中固有的一些或全部困難的尺寸可變的孔徑。考慮到本發(fā)明的以下公開內(nèi)容和某些實施例的詳細描述,特定的目的和優(yōu)點對于本領(lǐng)域技術(shù)人員(即,在所述技術(shù)領(lǐng)域中具有知識或經(jīng)驗的人員)將是顯而易見的。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)第一方面,一種用于為成像裝置提供尺寸可變的孔徑的設(shè)備包含:第一板,其具有延伸穿過其的第一多個板孔徑;和第二板,其具有延伸穿過其的第二多個板孔徑。第一電動機可操作地連接到第一板,且第二電動機可操作地連接到第二板。第一電動機和第二電動機被配置成使第一板和第二板相對于彼此移動,以使第一多個板孔徑中的任一者與第二多個板孔徑中的任一者對準,以限定多個光束孔徑。
根據(jù)另一個方面,一種成像裝置包含IR源、定位在IR源的下游的準直器、定位在準直器的下游的干涉儀,和定位在干涉儀的下游的樣品室。檢測器被定位在所述樣品室的下游且孔徑控制組件被定位在樣品室與檢測器之間。孔徑控制組件包含具有延伸穿過第一板的第一多個板孔徑的第一板和具有延伸穿過第二板的第二多個板孔徑的第二板。第一電動機可操作地連接到第一板,且第二電動機可操作地連接到第二板。第一電動機和第二電動機被配置成使第一板和第二板相對于彼此移動,以使第一多個板孔徑中的任一者與第二多個板孔徑中的任一者對準,以限定多個光束孔徑。
根據(jù)其它方面,成像裝置可包含連接到第一電動機和第二電動機以及檢測器的控制器。成像裝置還可包含分束器和監(jiān)視器,以允許用戶查看待分析的樣品區(qū)域。
從某些實施例的以下詳細公開內(nèi)容中,將進一步理解這里公開的這些和另外的特征和優(yōu)點。
附圖說明
圖1是使用形成尺寸可變的孔徑的第一和第二板的FTIR光譜儀裝置的示意圖。
圖2是圖1的裝置的第一板的實施例的平面圖。
圖3是圖1的裝置的第二板的實施例的平面圖。
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