[發(fā)明專利]抗蝕劑下層膜形成用組合物在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880045116.3 | 申請日: | 2018-08-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110869852A | 公開(公告)日: | 2020-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 緒方裕斗;臼井友輝;遠(yuǎn)藤雅久;岸岡高廣 | 申請(專利權(quán))人: | 日產(chǎn)化學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G03F7/11 | 分類號(hào): | G03F7/11;G03F7/20;H01L21/027 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 馬妮楠;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 抗蝕劑 下層 形成 組合 | ||
1.一種抗蝕劑下層膜形成用組合物,其包含具有下述式(1)所示的結(jié)構(gòu)單元的共聚物和溶劑,
在所述式中,X表示碳原子數(shù)2~10的二價(jià)鏈狀烴基,該二價(jià)鏈狀烴基可以在主鏈具有至少1個(gè)硫原子或氧原子,此外可以具有至少1個(gè)羥基作為取代基,R表示碳原子數(shù)1~10的鏈狀烴基,2個(gè)n分別表示0或1。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗蝕劑下層膜形成用組合物,所述共聚物為下述式(2)所示的二硫醇化合物與下述式(3)所示的二縮水甘油基醚化合物或二縮水甘油基酯化合物的反應(yīng)生成物,
在所述式中,X、R和2個(gè)n與所述式(1)的定義含義相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的抗蝕劑下層膜形成用組合物,其進(jìn)一步包含交聯(lián)性化合物。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的抗蝕劑下層膜形成用組合物,其進(jìn)一步包含熱產(chǎn)酸劑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的抗蝕劑下層膜形成用組合物,其進(jìn)一步包含表面活性劑。
6.一種用于制造半導(dǎo)體裝置的光致抗蝕劑圖案的形成方法,其包含下述工序:將權(quán)利要求1~5中任一項(xiàng)所述的抗蝕劑下層膜形成用組合物涂布在表面具有凹部的半導(dǎo)體基板上,然后進(jìn)行烘烤而形成至少填埋該凹部內(nèi)的抗蝕劑下層膜的工序;在所述抗蝕劑下層膜上形成光致抗蝕劑層的工序;將被所述抗蝕劑下層膜和所述光致抗蝕劑層被覆了的所述半導(dǎo)體基板曝光的工序;在所述曝光后將所述光致抗蝕劑層顯影的工序。
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