[發明專利]電容式測量方法和料位測量設備

在審

• 申請號: 201880044840.4
• 申請日: 2018-06-19
• 公開（公告）號: CN110869720A
• 公開（公告）日: 2020-03-06
• 發明（設計）人: 安娜·卡拉拉·施奈德;拉斐爾·屈南;阿爾明·韋內特
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾歐洲兩合公司
• 主分類號: G01F23/26
• 分類號: G01F23/26
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于電容式確定和/或監測介質(4)的至少一個過程變量的方法，

所述方法包括以下方法步驟：

-向探針電極(5)供應具有至少第一可預確定頻率(f₁)的至少第一電激勵信號(A₁)，

-從所述探針電極(5)接收第一電接收的信號(E₁)，

-從至少所述第一接收的信號(E₁)中查明所述探針電極(5)的測量的電容(C_mess)或所述探針電極(5)的測量的電容(C_mess)和介質/吸積電阻(R_M,A)，以及

-基于所述測量的電容(C_mess)的值而確定所述至少一個過程變量。

2.根據權利要求1所述的方法，

其中基于所述探針電極(5)的等效電路而查明所述測量的電容(C_mess)和/或所述吸積/介質電阻(R_M,A)，所述等效電路包括所述測量的電容(C_mess)和所述介質/吸積電阻(R_M,A)的并聯電路。

3.根據權利要求1所述的方法，

其中基于所述探針電極(5)的等效電路而查明所述測量的電容(C_mess)和/或所述吸積/介質電阻(R_M,A)，所述等效電路包括絕緣電容(C_iso)和所述測量的電容(C_mess)與所述介質/吸積電阻(R_M,A)的并聯電路的串聯電路。

4.根據前述權利要求中的至少一項所述的方法，

其中向所述探針電極(5)供應至少所述第一激勵信號(A₁)和具有第二可預確定頻率(f₂)的第二激勵信號(A₂)，其中接收所述第一接收的信號(E₁)和第二接收的信號(E₂)，并且其中根據所述第一接收的信號(E₁)和所述第二接收的信號(E₂)確定所述測量的電容(C_mess)和/或所述介質/吸積電阻(R_M,A)。

5.根據權利要求1到4中的至少一項所述的方法，

其中查明至少所述第一接收的信號(E₁)的至少一個振幅(a)和/或相位(Φ)，并且其中基于所述振幅(a)和/或所述相位(Φ)而查明所述測量的電容(C_mess)和/或所述介質/吸積電阻(R_M,A)。

6.根據前述權利要求中的至少一項所述的方法，

其中所述至少一個過程變量是容器(3)中介質(4)的料位。

7.根據前述權利要求中的至少一項所述的方法，

其中基于介質/吸積電阻(R_M,A)查明所述介質(4)的電導率(σ)，和/或基于測量的電容(C_mess)查明所述介質(4)的電容率(ε_r)。

8.根據前述權利要求中的至少一項所述的方法，

其中基于所述測量的電容(C_mess)、所述介質/吸積電阻(R_M,A)和/或從至少所述測量的電容(C_mess)和/或所述介質/吸積電阻(R_M,A)得出的至少一個變量，而確定在所述探針電極(5)的至少一部分上存在吸積。