[發明專利]用于表面測量儀的容納設備

有效

• 申請號: 201880041355.1
• 申請日: 2018-06-15
• 公開（公告）號: CN110770554B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 彼得·施瓦茲
• 申請（專利權）人: 畢克-加特納有限責任公司
• 主分類號: G01J3/52
• 分類號: G01J3/52;G01N21/27
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王瑞朋;胡彬

1.用于表面測量儀(1)的容納設備(2)，該容納設備具有至少一個基準測量面(4)，該基準測量面能夠被置于至少一個遮蓋狀態中和至少一個開放狀態中，在所述遮蓋狀態中該基準測量面相對容納設備(2)的周圍環境得到遮蓋，在所述開放狀態中該基準測量面相對容納設備(2)的周圍環境未得到遮蓋，因而表面測量儀(1)在其容納在容納設備(2)中并且所述至少一個基準測量面(4)處于所述至少一個開放狀態中時能夠實施對所述至少一個基準測量面(4)的基準測量， 其中，所述至少一個基準測量面(4)能夠相對容納設備(2)移入至少一個遮蓋位置中，在該遮蓋位置中，所述基準測量面通過容納設備(2)的殼體(8)而相對該容納設備(2)的周圍環境得到遮蓋，所述至少一個基準測量面(4)由此能夠被置于遮蓋狀態中，并且所述至少一個基準測量面(4)能夠相對容納設備(2)移入不同于所述至少一個遮蓋位置的至少一個開放位置中，在該開放位置中，所述基準測量面相對容納設備(2)的周圍環境未得到遮蓋，所述至少一個基準測量面(4)由此能夠被置于開放狀態中，其特征在于：容納設備(2)此外具有至少一個封蓋(9)，該封蓋能夠相對容納設備(2)移入至少一個關閉位置中和至少一個打開位置中，在所述關閉位置中，所述封蓋將容納設備(2)的殼體(8)中的開口(6)封閉，在所述打開位置中，所述封蓋不封閉該開口(6)，其中，所述至少一個封蓋(9)的關閉位置與所述至少一個基準測量面的開放位置相同。

2.根據權利要求1所述的容納設備(2)，其特征在于：所述容納設備用于光學的表面測量儀。

3.根據權利要求1所述的容納設備(2)，其特征在于：所述至少一個基準測量面(4)的運動和所述至少一個封蓋(9)的運動分別是樞轉運動，并且兩個樞轉運動相互機械式聯接。

4.根據權利要求3所述的容納設備(2)，其特征在于：所述兩個樞轉運動通過杠桿機構(11至14)相互機械式聯接。

5.根據權利要求1至4之任一項所述的容納設備(2)，其特征在于：所述容納設備(2)具有多個基準測量面(4)。

6.根據權利要求5所述的容納設備(2)，其特征在于：所述容納設備(2)具有兩個、三個、四個、五個、六個或更多基準測量面(4)。

7.根據權利要求5所述的容納設備(2)，其特征在于：所述基準測量面(4)的位置不能相對彼此改變。

8.根據權利要求7所述的容納設備(2)，其特征在于：每個基準測量面(4)的可能的位置數量與基準測量面(4)的數量相等，并且這些可能的位置中的相應恰好一個位置是開放位置，而其余的位置是遮蓋位置。

9.根據權利要求7或8所述的容納設備(2)，其特征在于：所述基準測量面(4)在其可能的位置之間的運動是圍繞一根共同軸線的旋轉運動。

10.根據權利要求9所述的容納設備(2)，其特征在于：所有基準測量面(4)設置在共同的轉塔機構上。

11.根據權利要求1至4之任一項所述的容納設備(2)，其特征在于：所述容納設備(2)具有用于將所述至少一個基準測量面(4)至少暫時固定在所述至少一個開放位置中的裝置。

12.根據權利要求11所述的容納設備(2)，其特征在于：所述用于將至少一個基準測量面(4)至少暫時固定在所述至少一個開放位置中的裝置是磁性裝置或卡鎖裝置。

13.根據權利要求1至4之任一項所述的容納設備(2)，其特征在于：所述至少一個基準測量面(4)在所述至少一個開放狀態中能夠為了實施基準測量而定向。