[發(fā)明專利]納米結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880035485.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110678990A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-01-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | B·O·M·費(fèi)姆蘭;H·韋曼;D·任 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 挪威科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L33/16;H01L33/08;H01L33/24 |
| 代理公司: | 11728 北京信諾創(chuàng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 劉金峰 |
| 地址: | 挪威特*** | 國(guó)省代碼: | 挪威;NO |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米結(jié)構(gòu) 物質(zhì)組合物 摻雜的 襯底 外沿 生長(zhǎng) | ||
1.一種物質(zhì)組合物,其包含至少一種納米結(jié)構(gòu),該納米結(jié)構(gòu)外沿地生長(zhǎng)于視情況摻雜的β-Ga2O3襯底上,
其中該納米結(jié)構(gòu)包含至少一種第III-V族化合物。
2.如權(quán)利要求1所述的物質(zhì)組合物,其中該至少一種納米結(jié)構(gòu)是經(jīng)摻雜的,例如p型摻雜。
3.如權(quán)利要求1所述的物質(zhì)組合物,其中該至少一種納米結(jié)構(gòu)包含徑向或軸向異質(zhì)結(jié)構(gòu)。
4.一種物質(zhì)組合物,其包含:
至少一種核心半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu),其外沿地生長(zhǎng)于視情況摻雜的β-Ga2O3襯底上,其中該納米結(jié)構(gòu)包含至少一種第III-V族化合物;
半導(dǎo)體殼,其包圍該核心納米結(jié)構(gòu),該殼包含至少一種第III-V族化合物;
該核心半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)經(jīng)摻雜以形成n型或p型半導(dǎo)體;及
該殼經(jīng)摻雜以形成與該核心相反的p型半導(dǎo)體或n型半導(dǎo)體;及
外部導(dǎo)電涂層,其包圍該殼的形成電極接頭的至少一部分。
5.一種物質(zhì)組合物,其包含:
至少一種半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu),其外沿地生長(zhǎng)于視情況摻雜的β-Ga2O3襯底上,其中該納米結(jié)構(gòu)包含至少一種第III-V族化合物;
該半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)經(jīng)摻雜以使得該納米結(jié)構(gòu)含有軸向n型及p型半導(dǎo)體區(qū)。
6.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其中該納米結(jié)構(gòu)自(-201)或(100)β-Ga2O3襯底平面生長(zhǎng)。
7.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其中該納米結(jié)構(gòu)包含第III族-N化合物。
8.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其中該納米結(jié)構(gòu)包含GaN、AlN、AlGaN、InGaN或AlInGaN。
9.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其中該納米結(jié)構(gòu)為納米線或納米棱錐。
10.如權(quán)利要求9所述的物質(zhì)組合物,其中該納米線的直徑不超過(guò)400nm且長(zhǎng)度為至多5微米,例如至多2微米。
11.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其中該襯底包含復(fù)數(shù)個(gè)納米線且其中所述納米線優(yōu)選地大體上平行。
12.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其進(jìn)一步包含定位于該襯底與該納米結(jié)構(gòu)之間的經(jīng)摻雜或未摻雜的第III-V族緩沖層。
13.如權(quán)利要求12所述的物質(zhì)組合物,其中該緩沖層為經(jīng)摻雜或未摻雜的GaN。
14.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其進(jìn)一步包含在該襯底上的孔洞圖案化掩膜,其中所述納米結(jié)構(gòu)生長(zhǎng)穿過(guò)該掩膜的孔洞。
15.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的物質(zhì)組合物,其進(jìn)一步包含在該襯底上的孔洞圖案化掩膜、在該掩膜的孔洞中的經(jīng)摻雜或未摻雜的第III-V族化合物緩沖層,其中所述納米結(jié)構(gòu)自該緩沖層生長(zhǎng)穿過(guò)該掩膜的孔洞。
16.一種物質(zhì)組合物,其包含至少一種外沿地生長(zhǎng)于襯底上的納米結(jié)構(gòu),該襯底包含摻雜或未摻雜的第III-V族化合物緩沖層,諸如摻雜或未摻雜的GaN緩沖層,及視情況摻雜的β-Ga2O3層,
其中該納米結(jié)構(gòu)包含至少一種第III-V族化合物。
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