[發(fā)明專利]用于校準(zhǔn)具有判決反饋均衡器(DFE)的接收器的裝置和方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201880035464.2
• 申請(qǐng)日: 2018-05-07
• 公開（公告）號(hào): CN110692213B
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·陳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 高通股份有限公司
• 主分類號(hào): H04L7/00
• 分類號(hào): H04L7/00;H03K3/356;H04L25/03
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 張曦

本公開的各方面指向確定樣本鎖存器的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)。根據(jù)一個(gè)方面，本公開涉及一種判決反饋均衡器(DFE)輸入段，其包括：E樣本鎖存器，用于輸出目標(biāo)信號(hào)樣本；E樣本數(shù)模轉(zhuǎn)換器，耦合到E樣本鎖存器以向E樣本鎖存器輸入目標(biāo)電壓；樣本鎖存器，用于輸出信號(hào)樣本；以及電壓數(shù)模轉(zhuǎn)換器，耦合到E樣本鎖存器和樣本鎖存器以生成偏置電壓，其中偏置電壓被輸入到E樣本鎖存器和樣本鎖存器。DFE輸入段還可以包括：鎖存器偏移解碼器，用于縮放偏置電壓；以及求和放大器，用于接收去往DFE輸入段的模擬輸入波形。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求2017年5月31日在美國(guó)專利商標(biāo)局提交的臨時(shí)申請(qǐng)No.62/512,837和2017年7月19日在美國(guó)專利商標(biāo)局提交的非臨時(shí)申請(qǐng)No.15/654,540的優(yōu)先權(quán)和權(quán)益，其全部?jī)?nèi)容通過引用并入本文，就如同在下文中以它們的整體并且出于所有適用目的而被完全闡述。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開一般地涉及校準(zhǔn)接收器的領(lǐng)域，并且特別地涉及校準(zhǔn)具有判決反饋均衡器(DFE)的接收器。

背景技術(shù)

接收器中的高性能判決反饋均衡器(DFE)采用高精度樣本鎖存器來捕獲和量化傳入的高速信號(hào)。DFE性能取決于樣本鎖存器準(zhǔn)確度，例如，樣本鎖存器電壓偏移。為了減輕DFE性能下降，樣本鎖存器電壓偏移必須被校準(zhǔn)。然而，常規(guī)設(shè)計(jì)中的電壓偏移校準(zhǔn)被底層晶體管的相對(duì)幾何尺寸的精度所限制。作為結(jié)果，如果偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)太小，則電壓偏移校準(zhǔn)可能具有受限制的偏移校準(zhǔn)范圍，或者如果偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)太大，則電壓偏移校準(zhǔn)可能具有低劣的校準(zhǔn)精度。也就是說，相對(duì)晶體管尺寸的精度影響電壓偏移校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度。并且，進(jìn)而，電壓偏移校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度影響DFE性能。

發(fā)明內(nèi)容

下文提出了本公開的一個(gè)或多個(gè)方面的簡(jiǎn)化概述，以便提供對(duì)這樣的方面的基本理解。該概述不是本公開的所有設(shè)想到的特征的廣泛概覽，并且既不旨在標(biāo)識(shí)本公開的所有方面的關(guān)鍵或重要元素，也不旨在界定本公開的任何或所有方面的范圍。其唯一目的是以簡(jiǎn)化的形式呈現(xiàn)本公開的一個(gè)或多個(gè)方面的一些概念，作為稍后呈現(xiàn)的更詳細(xì)描述的序言。

在一個(gè)方面，本公開提供了確定樣本鎖存器的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)。因此，一種用于確定樣本鎖存器的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)的方法包括：生成第一目標(biāo)電壓；設(shè)置校準(zhǔn)數(shù)字控制字；以及基于第一目標(biāo)電壓和校準(zhǔn)數(shù)字控制字，將量化數(shù)字控制字調(diào)節(jié)為第一整數(shù)值，其中第一整數(shù)值基于樣本鎖存器達(dá)到第一亞穩(wěn)態(tài)。該方法還包括：確定第一步長(zhǎng)，其中第一步長(zhǎng)是與第一整數(shù)值相對(duì)應(yīng)的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)的值。該方法還可以包括：生成第二目標(biāo)電壓；重置校準(zhǔn)數(shù)字控制字以生成重置后的校準(zhǔn)數(shù)字控制字；以及基于第二目標(biāo)電壓和重置后的校準(zhǔn)數(shù)字控制字，將量化數(shù)字控制字重新調(diào)節(jié)為第二整數(shù)值。該方法還可以包括：確定第二步長(zhǎng)，其中第二步長(zhǎng)是與第二整數(shù)值相對(duì)應(yīng)的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)的值。該方法還可以包括：確定經(jīng)校準(zhǔn)的量化數(shù)字控制字，其中經(jīng)校準(zhǔn)的量化數(shù)字控制字是第一整數(shù)值和第二整數(shù)值的算術(shù)平均值。該方法還可以包括：確定經(jīng)校準(zhǔn)的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)，其中經(jīng)校準(zhǔn)的偏移校準(zhǔn)步長(zhǎng)是第一步長(zhǎng)和第二步長(zhǎng)的算術(shù)平均值。在一個(gè)示例中，第二整數(shù)值基于樣本鎖存器達(dá)到第二亞穩(wěn)態(tài)。在一個(gè)示例中，第二亞穩(wěn)態(tài)與第一亞穩(wěn)態(tài)不同。在一個(gè)示例中，生成第一目標(biāo)電壓步驟包括：將E樣本數(shù)字控制字設(shè)置為第一目標(biāo)碼，并且E樣本符號(hào)位被設(shè)置為第一極性。在一個(gè)示例中，第一目標(biāo)電壓等于第一目標(biāo)碼和EDAC輸出分辨率的乘積。