[發明專利]用于提供用于對呼吸氣體分析機構進行校準和質量控制的校準流體的裝置、系統和方法

有效

• 申請號: 201880029306.6
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN110602981B
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: K.薩納;K.舍克;H.延克;S.里爾
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: A61B5/08
• 分類號: A61B5/08;G01N33/497
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 梁冰;李雪瑩

1.用于提供用于對呼吸氣體分析機構（20）進行校準的校準流體的裝置（100），該裝置包括用于將該裝置（100）的腔室（101）與所述呼吸氣體分析機構（20）的測量路徑（21）連接起來的第一接口（110）、用于將具有第一反應物（11）的反應物載體（10）加入到所述腔室（101）中的第一開口（120），以及接觸元件（140），其中所述接觸元件（140）相對于所述第一開口（120）如此布置在所述腔室（101）中，從而在加入反應物載體（10）時能夠使所述接觸元件（140）與所述反應物載體（10）相接觸，以用于觸發所述第一反應物（11）的化學反應，從而產生校準流體，其中所述接觸元件（140）包括用于與所加入的反應物載體（10）相接觸的結構（144），其中所述結構（144）構造用于將所述反應物載體（10）固定在所述裝置（100）的腔室（101）中。

2.根據權利要求1所述的裝置（100），其中所述裝置（100）包括用于通過所述第一接口（110）來排擠所產生的校準流體的能夠移動的活塞（150）。

3.根據權利要求1或2所述的裝置（100），其中所述接觸元件（140）包用于將所述第一反應物（11）加熱到預先給定的反應溫度的加熱器（141）。

4.根據權利要求3所述的裝置（100），其中所述接觸元件（140）具有用于使得所加入的反應物載體（10）與所述加熱器（141）進行電接觸的導電的接觸面（145）。

5.根據權利要求1或2所述的裝置（100），其中所述接觸元件（140）包括第二反應物（143）。

6.根據權利要求5所述的裝置（100），其中所述接觸元件（140）包括打開元件（146），以用于打開所述反應物載體（10）的容器（13、14），以用于將第一反應物（11）和/或第二反應物（143）從所述容器中釋放出來。

7.根據權利要求1所述的裝置（100），其中，所述校準流體是指氮氧化物。

8.根據權利要求1所述的裝置（100），其中，所述結構（144）是指凸起。

9.根據權利要求6所述的裝置（100），其中，所述打開元件（146）是指芯軸或凸起。

10.用于給呼吸氣體分析機構（20）的蓄能器進行充電的充電機構，其包括根據權利要求1至9中任一項所述的裝置（100）。

11.用于給呼吸氣體分析機構（20）的蓄能器進行充電的充電站，其包括根據權利要求1至9中任一項所述的裝置（100）。

12.用于提供用于對呼吸氣體分析機構（20）進行校準的校準流體的系統（1000），所述系統包括根據權利要求1至9中任一項所述的裝置（100）或根據權利要求10所述的充電機構或根據權利要求11所述的充電站以及帶有第一反應物（11）的反應物載體（10）以用于化學生成校準流體。

13.根據權利要求12所述的系統（1000），其中所述反應物載體（10）包括第一反應物（11）和加熱器（141），其中所述加熱器（141）布置在所述第一反應物（11）的下方。

14.根據權利要求13所述的系統（1000），其中，所述加熱器（141）是指微系統加熱器。