[發(fā)明專利]光子計數(shù)型放射線檢測器及使用了其的放射線檢查裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880028268.2
• 申請日: 2018-05-11
• 公開（公告）號: CN110573080B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 角島邦之;鈴木智之;筒井一生;佐佐木亮人;佐佐木敦也;平林英明;片岡好則
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社東芝;東芝高新材料公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;G01N23/046;G01N23/083;G01T1/24;H01L31/108
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 白麗

本發(fā)明的實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器具備第一單元及第二單元。上述第一單元使放射線透過。上述第二單元與上述第一單元層疊，對從上述第一單元透過后的上述放射線進行吸收。

技術(shù)領(lǐng)域

實施方式主要涉及光子計數(shù)型放射線檢測器及使用了其的放射線檢查裝置。

背景技術(shù)

放射線檢查裝置被用于從醫(yī)療器械到工業(yè)用非破壞檢查裝置等各種領(lǐng)域。作為醫(yī)療器械，可列舉出CT(Computed?Tomography，電子計算機斷層)裝置或正電子發(fā)射斷層(PET：positron?emission?Tomography)裝置。作為放射線，使用了X射線或γ射線等。

X射線CT裝置如日本專利第4886151號公報(專利文獻1)中所示的那樣，一般使用被稱為固體閃爍器的發(fā)光物質(zhì)。固體閃爍器是通過照射X射線而發(fā)光的物質(zhì)。使用了固體閃爍器的X射線CT裝置將透過被檢體后的X射線用固體閃爍器轉(zhuǎn)換成可見光。將該可見光用光電二極管檢測器轉(zhuǎn)變成電信號而得到斷層圖像。通過這樣的方式，目前，還能夠得到立體圖像。另一方面，就以電信號來檢測固體閃爍器的發(fā)光的方法而言，有將X射線轉(zhuǎn)變成光的損失。此外，由于光電二極管的光敏性的提高存在界限，所以X射線的被輻射量的降低存在界限。另外，固體閃爍器由于為多晶體，所以固體閃爍器的小型化存在界限。因此，空間分辨率的提高存在界限。進而，在僅將固體閃爍器的發(fā)光轉(zhuǎn)變成電信號的方式中，存在X射線信息量少這樣的問題。

近年來，進行了將透過被檢體后的放射線直接轉(zhuǎn)換成電信號的放射線檢測器的開發(fā)。在日本特開2014-128456號公報(專利文獻2)中，公開了搭載有光子計數(shù)型放射線檢測器的放射線檢測器。光子計數(shù)方式能夠?qū)⑼高^被檢體后的X射線光子直接轉(zhuǎn)換成電信號。由此，期待被輻射量的降低等效果。

現(xiàn)有技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利第4886151號公報

專利文獻2：日本特開2014-128456號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明所要解決的課題

另一方面，以往的光子計數(shù)型放射線檢測器如專利文獻2的[0024]段落中所示的那樣，使用了碲化鎘(CdTe)或CdZnTe。CdTe能夠進行室溫動作，具有高能量分辨率。通過使用CdTe，能夠提高檢測效率。其另一方面，為了擴展耗盡層，需要800～1000V左右的高施加電壓。另外，存在Cd自身的毒性的問題或不易制造均勻的晶體這樣的問題。

本發(fā)明是用于解決這樣的問題的發(fā)明，提供改善了檢測效率的光子計數(shù)型放射線檢測器。

用于解決課題的手段

實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器具備第一單元及第二單元，并具有以下的特征。第一單元使X射線透過。第二單元對從第一單元透過后的放射線進行吸收。第二單元與第一單元層疊。

上述第一單元及上述第二單元中的至少任一者優(yōu)選具有SiC層。

發(fā)明效果

實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器由于將單元制成層疊結(jié)構(gòu)，所以能夠?qū)ν高^被檢體后的放射線沿透過方向以多個單元進行檢測。因此，能夠提高檢測效率。

附圖說明

圖1是表示實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器的一個例子的示意圖。

圖2是表示實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器的另一例子的示意圖。

圖3是表示實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器的又一例子的示意圖。

圖4是說明實施方式的光子計數(shù)型放射線檢測器的時間分辨率的概念圖。

圖5是表示實施方式的單元的一個例子的示意圖。