[發明專利]使用應變片的溫度測定裝置有效
| 申請號： | 201880026721.6 | 申請日： | 2018-05-17 |
| 公開（公告）號： | CN110546471B | 公開（公告）日： | 2020-09-22 |
| 發明（設計）人： | 佐藤聰;小林正輝 | 申請（專利權）人： | 美蓓亞三美株式會社 |
| 主分類號： | G01K5/52 | 分類號： | G01K5/52 |
| 代理公司： | 北京思益華倫專利代理事務所(普通合伙) 11418 | 代理人： | 郭紅麗 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 使用 應變 溫度 測定 裝置 | ||
1.一種裝置，其用于測定金屬對象物的溫度，該裝置使用兩個應變片，
將所述兩個應變片粘貼在所述金屬對象物上，
使用所述兩個應變片構成惠斯通電橋電路，
所述兩個應變片中的第1應變片的線性膨脹系數大于所述金屬對象物的線性膨脹系數，
所述兩個應變片中的第2應變片的線性膨脹系數小于所述金屬對象物的線性膨脹系數。
2.一種裝置，其用于測定金屬對象物的溫度，該裝置使用四個應變片，
將所述四個應變片粘貼在所述金屬對象物上，
使用所述四個應變片構成惠斯通電橋電路，
所述四個應變片中的第1及第3應變片的線性膨脹系數大于所述金屬對象物的線性膨脹系數，
所述四個應變片中的第2及第4應變片的線性膨脹系數小于所述金屬對象物的線性膨脹系數。
3.一種裝置，其用于測定金屬對象物的溫度，該裝置使用兩個應變片，
將所述兩個應變片粘貼在所述金屬對象物上，
所述兩個應變片的柵方向彼此一致，
使用所述兩個應變片構成惠斯通電橋電路，
所述兩個應變片中的第1應變片的線性膨脹系數大于所述金屬對象物的線性膨脹系數，
所述兩個應變片中的第2應變片的線性膨脹系數小于所述金屬對象物的線性膨脹系數。
4.一種裝置，其用于測定金屬對象物的溫度，該裝置使用四個應變片，
將所述四個應變片粘貼在所述金屬對象物上，
所述四個應變片的柵方向彼此一致，
使用所述四個應變片構成惠斯通電橋電路，
所述四個應變片中的第1及第3應變片的線性膨脹系數大于所述金屬對象物的線性膨脹系數，
所述四個應變片中的第2及第4應變片的線性膨脹系數小于所述金屬對象物的線性膨脹系數。
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