[發明專利]檢查暴露樣品的設備和方法，排出工位和處理片狀元件的機器

有效

• 申請號: 201880026270.6
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN110546095B
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: P·沙特里
• 申請（專利權）人: 鮑勃斯脫梅克斯股份有限公司
• 主分類號: B65H29/58
• 分類號: B65H29/58;B65H29/04;B26D5/00;B26D7/18
• 代理公司: 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 11467
• 代理人: 賀征華

1.用于檢查處理片狀元件的處理機器（1）的坯料樣品（P）的檢查設備（6），處理機器（1）包括：多個工位（300，400，500，600），其包括至少一個包括檢查設備（6）的廢料清除工位（600），所述檢查設備（6）具有光學監視設備（7）和控制單元（8），所述廢料清除工位（600）包括用于即時地從切下的片材清除廢料的即時彈出器（92）和坯料樣品彈出設備（2）；所述檢查設備（6）與彈出設備（2）協作，所述彈出設備（2）的特征在于它包括至少一個致動元件（3），所述至少一個致動元件（3）具有彎曲的有效輪廓并且配置為在輸送設備（70）的夾持桿（75）經過時與夾持桿（75）協作，以打開夾持桿（75）并在清除帶（93；94）上平整地彈出坯料樣品（P），所述夾持桿（75）沿所述彎曲的有效輪廓的運動迫使所述夾持桿（75）的夾持器（76）逐漸打開、然后關閉，使得當所述夾持桿（75）的所述夾持器（76）與水平面（H）成介于0°-10°之間的角度α時所述夾持桿（75）被打開，當所述夾持桿（75）與所述水平面形成介于0°-60°之間的角度α時并且在所述彎曲的有效輪廓停止為了打開的目的而與所述夾持桿（75）協作之前，所述片材被釋放；其中所述光學監視設備（7）配置為確定平放在清除帶（93；94）上的坯料樣品（P）的質量缺陷，并且所述控制單元（8）連接至所述光學監視設備（7）并配置為將光學監視設備（7）捕獲的圖像與至少一個參考圖像進行比較，以確定是否存在質量缺陷。

2.根據權利要求1所述的檢查設備（6），其特征在于，光學監視設備（7）包括照相機。

3.根據權利要求1所述的檢查設備（6），其特征在于，光學監視設備（7）包括靜物照相機。

4.根據權利要求2或3所述的檢查設備（6），其特征在于，所述檢查設備（6）包括連接至控制單元（8）的警報單元（9），警報單元（9）配置為如果存在質量缺陷則生成警報。

5.用于處理片狀元件的處理機器（1）的廢料清除工位（600），其特征在于，其包括根據權利要求1-4中的任一項所述的坯料樣品的檢查設備（6）。

6.根據權利要求5所述的廢料清除工位（600），其特征在于，所述彈出設備（2）配置為彈出處理機器（1）的坯料樣品（P），其中多個夾持桿（75）配置為將片狀元件驅動通過工位（300，400，500，600）；所述至少一個致動元件（3）能夠在非有效位置和有效位置之間移動，在所述非有效位置中至少一個致動元件（3）定位成遠離夾持桿（75）的路徑，并且在所述有效位置中至少一個致動元件（3）位于夾持桿（75）的路徑上。

7.根據權利要求6所述的廢料清除工位（600），其特征在于，彈出設備（2）包括控制構件（4），其配置為使得其致動將命令致動元件（3）從非有效位置移動到有效位置，并且命令光學監視設備（7）捕獲平放在清除帶（93；94）上的坯料樣品（P）的圖像。

8.一種用于處理片狀元件的處理機器（1），其特征在于，包括多個工位（300，400，500，600）和輸送設備（70），多個工位（300，400，500，600）包括根據權利要求6-7中的任一項所述的廢料清除工位（600）。

9.用于處理片狀元件的處理機器（1）的坯料樣品（P）的質量控制方法，處理機器（1）包括：

- 多個工位（300，400，500，600），其包括坯料分離工位（500）和廢料清除工位（600），以及

- 輸送設備（70），其包括配置為驅動片狀元件通過工位（300，400，500，600）的多個夾持桿（75），

其特征在于，通過根據權利要求1-4中的任一項所述的檢查設備（6）來確定平放在清除帶（93）上的坯料樣品（P）的質量缺陷。