[發(fā)明專利]適配器的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880024725.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110573849B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田晨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01K13/00 | 分類號(hào): | G01K13/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;賈允 |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 適配器 測(cè)試 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種適配器的測(cè)試方法,其特征在于,包括:
控制所述適配器進(jìn)行滿載輸出;
檢測(cè)適配器中器件的溫度;
根據(jù)所述適配器中器件的溫度判斷所述適配器是否處于溫度平衡狀態(tài),所述溫度平衡狀態(tài)是指適配器中器件在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)溫度的變化在設(shè)定的范圍內(nèi);
如果處于所述溫度平衡狀態(tài),則提升所述適配器所處環(huán)境的環(huán)境溫度;
檢測(cè)所述適配器的輸出功率,并判斷在所述器件的溫度達(dá)到第一預(yù)設(shè)溫度閾值之前,所述適配器是否出現(xiàn)降功率操作;以及
如果未出現(xiàn)降功率操作,則判斷所述適配器測(cè)試失敗。
2.如權(quán)利要求1所述的適配器的測(cè)試方法,其特征在于,所述環(huán)境溫度的初始值為38-42度。
3.如權(quán)利要求1所述的適配器的測(cè)試方法,其特征在于,其中,在所述適配器中設(shè)有溫度傳感器,在所述溫度傳感器檢測(cè)的溫度達(dá)到第二預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí),對(duì)所述適配器進(jìn)行降功率操作,其中,所述第二預(yù)設(shè)溫度閾值小于所述第一預(yù)設(shè)溫度閾值。
4.如權(quán)利要求1所述的適配器的測(cè)試方法,其特征在于,所述適配器設(shè)置在恒溫箱中,所述恒溫箱提供所述環(huán)境溫度。
5.一種適配器的測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
溫度檢測(cè)器,用于檢測(cè)適配器中器件的溫度;
功率檢測(cè)器,用于檢測(cè)所述適配器的輸出功率;
環(huán)境溫度調(diào)節(jié)器,用于調(diào)節(jié)所述適配器所處環(huán)境的環(huán)境溫度;
控制器,用于控制所述適配器進(jìn)入滿載輸出狀態(tài),并根據(jù)所述適配器中器件的溫度判斷所述適配器是否處于溫度平衡狀態(tài),所述溫度平衡狀態(tài)是指適配器中器件在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)溫度的變化在設(shè)定的范圍內(nèi),并在判斷處于溫度平衡狀態(tài)時(shí)控制環(huán)境溫度調(diào)節(jié)器提高所述環(huán)境溫度,并判斷在所述適配器中器件的溫度達(dá)到第一預(yù)設(shè)溫度閾值之前,所述適配器是否進(jìn)行降功率操作。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述環(huán)境溫度調(diào)節(jié)器,還用于:
設(shè)置環(huán)境溫度的初始值為38-42度。
7.如權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述控制器,還用于:
在所述溫度檢測(cè)器檢測(cè)的溫度達(dá)到第二預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí),對(duì)所述適配器進(jìn)行降功率操作,其中,所述第二預(yù)設(shè)溫度閾值小于所述第一預(yù)設(shè)溫度閾值。
8.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí),實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一所述的適配器的測(cè)試方法。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一所述的適配器的測(cè)試方法。
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