[發明專利]CT X射線圖像中的對象投影在審
| 申請號: | 201880023405.3 | 申請日: | 2018-02-05 |
| 公開(公告)號: | CN110520900A | 公開(公告)日: | 2019-11-29 |
| 發明(設計)人: | M·多澤斯基;M·A·莫瑞格;S·凱尼格 | 申請(專利權)人: | 德國史密斯海曼有限責任公司 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G06T19/20 |
| 代理公司: | 11283 北京潤平知識產權代理有限公司 | 代理人: | 肖冰濱;王曉曉<國際申請>=PCT/EP |
| 地址: | 德國威*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標對象 檢查對象 正弦圖數據 偽影 數據庫 中央控制單元 計算機程序 產生裝置 圖像投影單元 篩查系統 圖像空間 行李物品 測試 計算機程序產品 非破壞性檢查 金屬 反向變換 金屬偽影 軟件裝置 通信網絡 自動系統 運行時 優選 投影 存儲 | ||
1.一種用于測試X射線圖像的產生方法,該方法包括:
準備(S10)表示檢查對象的第一計算機斷層(CT)數據(B)、表示包含在所述檢查對象中的金屬部分的第二CT數據(BM)、以及表示目標對象的金屬部分的第三CT數據(TM),該目標對象要被虛擬地插入到所述第一CT數據(B);
將所述第一、第二和第三CT數據(B、BM、TM)從圖像空間(BR)變換(S20)到所述radon空間(RR)中對應的第一正弦圖數據(SB)、第二正弦圖數據(SBM)以及第三正弦圖數據(STM);
在所述radon空間(RR)中計算(S30、S40)所述偽影正弦圖數據(SA),該SA表示基于要被插入的所述目標對象而要被添加到所述第一CT數據(B)的金屬偽影;
將所述偽影正弦圖數據SA從所述radon空間(RR)反向變換(S50)到CT偽影數據(A)中的所述圖像空間(BR),該CT偽影數據(A)表示要被插入的所述偽影;以及
將所述CT偽影數據(A)插入到所述第一CT數據(B)。
2.根據權利要求1所述的產生方法,該方法還包括:將表示所述目標對象的第四CT數據(T)插入到所述第一CT數據(B),以得到CT測試圖像數據(FTI)。
3.根據權利要求2所述的產生方法,該方法還包括:從所述CT測試圖像數據(FTI)獲取所述檢查對象的3D X射線圖像和/或2D X射線圖像。
4.根據權利要求1至3中一項所述的產生方法,其中針對相關聯的偽影正弦圖中的每個像素(p),根據以下規則計算強度值(SA(p)):
(i)SA(p)=(qμ-q SB(p))如果STM(p)≠0且SBM(p)=0以及
(ii)SA(p)=0其他,
其中q是0與1之間的預定值,以及μ是相關聯的第二正弦圖數據(SBM)中的最大值。
5.根據權利要求4所述的產生方法,其中q是0.02與0.06之間的值,優選地是0.03與0.04之間的值,以及尤其優選地為0.04。
6.根據權利要求1至5中一項所述的產生方法,其中將CT數據(A,T)插入到所述第一CT數據(B)包括:
根據與要被添加的所述CT數據對應的體元相關聯的相應的材料屬性值,對與所述第一CT數據(B)中的特定體元相關聯的材料屬性值進行加權組合,其中對應的空間坐標與所述對應的體元和所述特定體元相關聯。
7.根據權利要求6所述的產生方法,其中將CT數據(A、T)插入到所述第一CT數據(B)包括:
通過要被添加的所述CT數據(T,A)中的預定閾值,對材料屬性值低于所述預定閾值的第一體元、材料屬性值處于高于所述預定閾值的預定范圍內的第二體元以及材料屬性值高于所述預定閾值的第三體元進行分類;
忽略所述第一體元的所述CT數據;
將與所述第一CT數據(B)的特定體元相關聯的所述材料屬性值與要被插入的所述CT數據的對應的第二體元的所述材料屬性值加權組合;以及
將與所述第一CT數據(B)的特定體元相關聯的所述材料屬性值替換成與要被添加的所述CT數據的對應的體元相關聯的材料屬性值;
其中在混合步驟和替換步驟中,對應的空間坐標與所述對應的體元和所述特定體元相關聯。
8.根據權利要求1至7中一項所述的產生方法,其中CT數據(B、BM、TM、T、A)至少包括:針對材料屬性的一個值;優選地以下各項中的至少一者:吸收系數、材料密度值、以及原子序數;以及優選地用于確定體元的所述位置的三維(3D)坐標,該位置與針對材料屬性的所述至少一個值相關聯。
9.一種具有計算機程序的計算機程序產品,該計算機程序具有用于當所述計算機程序在自動系統中運行時執行根據權利要求1至8中一項所述的方法的軟件裝置。
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