[發(fā)明專利]原料的粒度分布測定裝置、粒度分布測定方法以及空隙率測定裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880023175.0
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN110476053B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 山平尚史;西野嵩啟;平田丈英;津田和呂;坪井俊樹
• 申請（專利權(quán)）人: 杰富意鋼鐵株式會(huì)社
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N15/02
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 楊宏軍

1.原料的粒度分布測定裝置，其對在用規(guī)定的篩孔直徑的篩進(jìn)行篩分后、在位于所述篩的下游側(cè)的傳送帶上移動(dòng)的原料的粒度分布進(jìn)行測定，

所述原料包含比所述篩孔直徑大的粗粒和用所述篩沒有被篩盡的篩孔直徑以下且附著于所述粗粒的細(xì)粒，

所述原料的粒度分布測定裝置具有：

粗粒測定裝置，其設(shè)于所述傳送帶的上方，取得表示所述原料的所述粗粒的粒度分布的信息；

細(xì)粒測定裝置，其設(shè)于所述傳送帶的上方，取得表示所述原料的所述細(xì)粒的粒度分布的信息；以及

運(yùn)算裝置，其使用表示粗粒的粒度分布的信息來算出粗粒的粒度分布，使用表示細(xì)粒的粒度分布的信息來算出細(xì)粒的粒度分布，并使用所述粗粒的粒度分布和所述細(xì)粒的粒度分布來算出所述原料整體的粒度分布。

2.如權(quán)利要求1所述的原料的粒度分布測定裝置，其中，

所述表示細(xì)粒的粒度分布的信息是原料的圖像數(shù)據(jù)，

所述運(yùn)算裝置使用將所述圖像數(shù)據(jù)的亮度平均而得到的平均亮度來算出所述細(xì)粒的粒度分布。

3.原料的粒度分布測定裝置，其在用規(guī)定的篩孔直徑的篩進(jìn)行篩分后、對在傳送帶上移動(dòng)的原料的粒度分布進(jìn)行測定，所述原料的粒度分布測定裝置具有：

粗粒測定裝置，其取得表示粗粒的粒度分布的信息；

細(xì)粒測定裝置，其取得表示細(xì)粒的粒度分布的信息；以及

運(yùn)算裝置，其使用所述表示粗粒的粒度分布的信息來算出粗粒的粒度分布，使用所述表示細(xì)粒的粒度分布的信息來算出細(xì)粒的粒度分布，并使用所述粗粒的粒度分布和所述細(xì)粒的粒度分布來算出所述原料整體的粒度分布，

所述細(xì)粒測定裝置具備對來自所述原料的反射光進(jìn)行分光而測定分光反射率的分光測定部，

所述細(xì)粒測定裝置取得多個(gè)波長的分光反射率作為所述表示細(xì)粒的粒度分布的信息，

所述運(yùn)算裝置使用對所述多個(gè)波長的分光反射率實(shí)施主成分分析或者偏最小二乘法(PLS)而得到的預(yù)先確定的基底向量的得分來算出所述細(xì)粒的粒度分布。

4.原料的粒度分布測定方法，對在用規(guī)定的篩孔直徑的篩進(jìn)行篩分后、在位于所述篩的下游側(cè)的傳送帶上移動(dòng)的原料的粒度分布進(jìn)行測定，

所述原料包含比所述篩孔直徑大的粗粒和用所述篩沒有被篩盡的篩孔直徑以下且附著于所述粗粒的細(xì)粒，

所述原料的粒度分布測定方法包括下述步驟：

粗粒測定步驟，從所述傳送帶的上方取得表示所述原料的所述粗粒的粒度分布的信息；

細(xì)粒測定步驟，從所述傳送帶的上方取得表示所述原料的所述細(xì)粒的粒度分布的信息；

粗粒的粒度分布算出步驟，使用在所述粗粒測定步驟中取得的表示粗粒的粒度分布的信息來算出粗粒的粒度分布；

細(xì)粒的粒度分布算出步驟，使用在所述細(xì)粒測定步驟中取得的表示細(xì)粒的粒度分布的信息來算出細(xì)粒的粒度分布；以及

原料的粒度分布算出步驟，使用所述粗粒的粒度分布和所述細(xì)粒的粒度分布來算出所述原料整體的粒度分布。

5.如權(quán)利要求4所述的原料的粒度分布測定方法，其中，

在所述原料的粒度分布算出步驟中，將所述粗粒的粒度分布及所述細(xì)粒的粒度分布制成線性模型，將制成所述線性模型的粗粒的粒度分布和制成所述線性模型的細(xì)粒的粒度分布組合來算出原料整體的粒度分布。

6.空隙率測定裝置，其對在用規(guī)定的篩孔直徑的篩進(jìn)行篩分后、在位于所述篩的下游側(cè)的傳送帶上移動(dòng)并在容器內(nèi)堆積的原料的空隙率進(jìn)行測定，

在所述傳送帶上移動(dòng)的所述原料包含粒徑比所述篩孔直徑大的粗粒和用所述篩沒有被篩盡的篩孔直徑以下且附著于所述粗粒的粒徑小的細(xì)粒，

所述空隙率測定裝置具備：

粗粒測定裝置，其設(shè)于所述傳送帶的上方，測定所述原料的所述粗粒的粒度分布；

細(xì)粒測定裝置，其設(shè)于所述傳送帶的上方，測定所述原料的所述細(xì)粒的粒度分布；以及

運(yùn)算裝置，其使用由所述粗粒測定裝置測定出的粗粒的粒度分布和由所述細(xì)粒測定裝置測定出的細(xì)粒的粒度分布來算出在所述容器內(nèi)堆積的狀態(tài)下的所述原料的空隙率。