[發(fā)明專利]光電二極管仿真器、測試電路和仿真光電二極管的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880021700.5 | 申請日： | 2018-02-26 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN110476071B | 公開（公告）日： | 2021-01-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | M·拉杰;Y·弗蘭斯;K-Y·常 | 申請（專利權(quán)）人： | 賽靈思公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/26 | 分類號(hào)： | G01R31/26;H03K17/78 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人： | 李興斌 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光電二極管 仿真器 測試 電路 仿真 方法 | ||
1.一種光電二極管仿真器電路，包括：
第一電流源電路；
第一晶體管和第二晶體管，其源極連接在一起并且連接到所述第一電流源電路的輸出，所述第二晶體管的漏極連接到第一節(jié)點(diǎn)；
第三晶體管，連接在所述第一晶體管的漏極和復(fù)制負(fù)載電路之間；
第二電流源電路，連接到所述第一節(jié)點(diǎn)；
電容器，連接在所述第一節(jié)點(diǎn)與電氣地之間；以及
第四晶體管，其源極連接到所述第一節(jié)點(diǎn)，并且漏極提供輸出電流；
其中所述第一晶體管的柵極接收第一邏輯信號(hào)，所述第二晶體管的柵極接收第二邏輯信號(hào)，并且所述第一邏輯信號(hào)和所述第二邏輯信號(hào)是彼此的邏輯補(bǔ)碼。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電二極管仿真器電路，其中所述第四晶體管的柵極接收第三邏輯信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2中任一項(xiàng)所述的光電二極管仿真器電路，其中所述第三晶體管的柵極連接到所述電氣地。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-2中任一項(xiàng)所述的光電二極管仿真器電路，其中所述第一電流源電路包括：
第五晶體管和第六晶體管，其柵極在第二節(jié)點(diǎn)處連接在一起，其中所述第五晶體管和所述第六晶體管的源極連接到供電電壓，所述第六晶體管的漏極是所述第一電流源電路的所述輸出，并且所述第五晶體管的漏極連接到所述第二節(jié)點(diǎn)；以及
連接在所述第二節(jié)點(diǎn)和所述電氣地之間的電流源。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電二極管仿真器電路，其中所述第二電流源包括：
第七晶體管，具有連接到所述供電電壓的源極、連接到所述第二節(jié)點(diǎn)的柵極以及漏極；
第八晶體管，具有連接到所述第七晶體管的所述漏極的源極、連接到所述電氣地的柵極以及連接到所述第一節(jié)點(diǎn)的漏極。
6.一種接收器中的測試電路，包括：
數(shù)據(jù)生成器，被配置成生成第一邏輯信號(hào)和第二邏輯信號(hào)，所述第一邏輯信號(hào)和所述第二邏輯信號(hào)是彼此的邏輯補(bǔ)碼；以及
光電二極管仿真器電路，包括：
第一電流源電路；
第一晶體管和第二晶體管，其源極連接在一起并且連接到所述第一電流源電路的輸出，其中所述第二晶體管的漏極連接到第一節(jié)點(diǎn)，并且所述第一晶體管和所述第二晶體管的柵極分別接收所述第一邏輯信號(hào)和所述第二邏輯信號(hào)；
第三晶體管，連接在所述第一晶體管的漏極和復(fù)制負(fù)載電路之間；
第二電流源電路，連接到所述第一節(jié)點(diǎn)；
電容器，連接在所述第一節(jié)點(diǎn)與電氣地之間；以及
第四晶體管，其源極連接到所述第一節(jié)點(diǎn)，并且漏極提供輸出電流。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試電路，其中所述第四晶體管的所述柵極接收第三邏輯信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6至7中任一項(xiàng)所述的測試電路，其中所述第三晶體管的所述柵極連接到所述電氣地。
9.根據(jù)權(quán)利要求6至7中任一項(xiàng)所述的測試電路，其中所述第一電流源電路包括：
第五晶體管和第六晶體管，其柵極在第二節(jié)點(diǎn)處連接在一起，其中所述第五晶體管和所述第六晶體管的源極連接到供電電壓，所述第六晶體管的漏極是所述第一電流源電路的所述輸出，并且所述第五晶體管的漏極連接到所述第二節(jié)點(diǎn)；以及
連接在所述第二節(jié)點(diǎn)和所述電氣地之間的電流源。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試電路，其中所述第二電流源包括：
第七晶體管，具有連接到所述供電電壓的源極、連接到所述第二節(jié)點(diǎn)的柵極以及漏極；
第八晶體管，具有連接到所述第七晶體管的所述漏極的源極、連接到所述電氣地的柵極以及連接到所述第一節(jié)點(diǎn)的漏極。
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