[發明專利]圖像處理裝置、圖像處理方法及非易失性有形介質有效
| 申請號: | 201880020590.0 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN110463184B | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發明(設計)人: | 田中康一;田中誠二;小林誠;河合智行 | 申請(專利權)人: | 富士膠片株式會社 |
| 主分類號: | H04N5/243 | 分類號: | H04N5/243;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/225;H04N5/341;H04N5/369 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 裝置 方法 非易失性 有形 介質 | ||
本發明的目的在于提供一種即使在生成要求實時性的顯示用圖像時,也能夠使用增益值對相位差檢測用像素的像素值的增益進行插值的圖像處理裝置、圖像處理方法及程序。圖像處理裝置(60)依次獲取動態圖像的時間順序的各幀圖像,根據所獲取的時間順序的過去幀圖像,計算在當前幀圖像的相位差檢測用像素的像素值的增益插值中使用的增益值。并且,圖像處理裝置(60)使用增益值,對當前幀圖像的相位差檢測用像素的像素值進行插值。
技術領域
本發明涉及一種圖像處理裝置、圖像處理方法及程序,尤其涉及一種進行從相位差檢測用像素輸出的像素值的插值的技術。
背景技術
一直以來,已知有通過像面相位差AF(自動聚焦,Auto focus)技術進行對焦的攝像裝置。通過像面相位差AF技術進行對焦的攝像裝置中,具備有普通像素和相位差檢測用像素離散地排列的成像元件。
相位差檢測用像素中,遮光膜開口的面積比普通像素小,因此當根據相位差檢測用像素的輸出值生成圖像時,需要對相位差檢測用像素的像素值進行校正來使用。因此,提出有與相位差檢測用像素的像素值的校正相關的技術。
例如,專利文獻1中記載有如下內容,即,一種能夠裝卸透鏡裝置的攝像裝置,存在與從透鏡裝置獲取的透鏡信息中包含的透鏡ID(identification)對應的校正增益值時,選擇通過增益校正處理對所有的相位差檢測用像素的輸出信號進行校正的方法,沒有與透鏡ID對應的校正增益值時,選擇通過插值校正處理對所有的相位差檢測用像素的輸出信號進行校正的方法。在此,插值校正處理是指,通過將校正對象像素的輸出信號(像素值)替換為利用攝像用像素的輸出信號生成的信號來進行校正,所述攝像用像素的輸出信號檢測位于校正對象像素周圍的與校正對象像素相同的顏色。
并且,例如專利文獻2中記載有如下技術,即,一種具有相位差檢測用像素及普通像素的成像元件,根據相位差檢測用像素的像素數據的混入率,改變被增益調整的相位差檢測像素的像素數據的加權系數來進行校正處理。
以往技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2016-076998號公報
專利文獻2:日本特開2014-180000號公報
發明內容
發明要解決的技術課題
在此,作為對相位差檢測用像素的像素值進行插值的代表性方法,有平均值插值(周邊像素插值)及增益插值。
平均值插值是使用位于進行插值的相位差檢測用像素的周邊的多個普通像素的像素值的加權平均值來進行插值的方法。為了提高相位差檢測的精度,需要以高密度配置相位差檢測用像素,但另一方面,若增加相位差檢測用像素的密度,則導致在加權平均值的計算中使用的普通像素的數量減少,因此導致平均值插值的精度下降。
增益插值是將相位差檢測用像素的像素值乘以增益值來使信號電平與周圍的普通像素的像素值一致的插值方法。相位差檢測用像素的像素值依賴于像高、F值、散焦量等而變動,因此很難預先以高精度計算增益值,需要分析實際加以校正的RAW數據,計算相位差檢測用像素與普通像素的信號比(=增益值)。但是,在需要在拍攝被攝體之后立刻顯示攝像圖像的(要求實時性的)動態圖像等即時預覽的顯示用圖像的生成中,沒有足夠的時間計算增益值。
生成要求實時性的顯示用圖像時,通過可進行增益插值,針對來自以高密度配置有相位差檢測用像素的成像元件的圖像數據,也能夠實現高精度的相位差檢測用像素的像素值的插值。
專利文獻1及2中,并未提及針對生成要求實時性的顯示用圖像時的相位差檢測用像素的像素值的增益插值。
本發明是鑒于這種情況而完成的,其目的在于提供一種即使在生成要求實時性的顯示用圖像的生成時,也能夠使用增益值對相位差檢測用像素的像素值的增益進行插值的圖像處理裝置、圖像處理方法及程序。
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