[發明專利]用于自下而上填充特征的濕法金屬籽晶沉積的方法在審
| 申請號: | 201880016403.1 | 申請日: | 2018-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN110383458A | 公開(公告)日: | 2019-10-25 |
| 發明(設計)人: | 薩曼莎·坦;鮑里斯·沃洛斯基;特塞翁格·金姆;普拉文·納拉;諾維·特約克洛;阿圖爾·科利奇 | 申請(專利權)人: | 朗姆研究公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 李獻忠;張靜 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 襯底 金屬前體 金屬前體溶液 間隙填充 金屬籽晶 稀釋液體 籽晶層 稀釋 沉積 填充 金屬或金屬合金 等離子體處理 熱處理 過渡金屬 特征執行 濕法 還原 蒸發 暴露 | ||
1.一種沉積用于對襯底的特征執行自下而上的間隙填充的金屬籽晶的方法,其包括:
提供包含多個特征的襯底;
使稀釋金屬前體溶液流入所述特征中,其中所述稀釋金屬前體溶液包括金屬前體和稀釋液體;
蒸發所述稀釋液體以將所述金屬前體定位在所述多個特征的底部;
將所述襯底暴露于等離子體處理以將所述金屬前體還原為金屬或金屬合金中的至少一種,并僅在所述多個特征的所述底部形成籽晶層;
對所述襯底執行熱處理;以及
使用選擇性間隙填充工藝以用接觸所述多個特征的所述籽晶層而不是其他暴露部分的過渡金屬來填充所述特征。
2.根據權利要求1所述的方法,其中所述襯底包括襯墊層,并且將所述稀釋金屬前體溶液施加到所述襯墊層。
3.根據權利要求2所述的方法,其中所述襯墊層由選自氮化鈦(TiN)、碳氮化鎢(WCN)和氮化鉭(TaN)的材料制成。
4.根據權利要求2所述的方法,其中所述襯墊層由選自二氧化硅、金屬或電介質的材料制成。
5.根據權利要求1所述的方法,其中所述過渡金屬選自鎳(Ni)、鈷(Co)、銅(Cu)、鉬(Mo)、釕(Ru)、銥(Ir)、鉑(Pt)、鈀(Pd)和鎢(W)。
6.根據權利要求2所述的方法,其中選擇所述金屬或所述金屬合金中的至少一種以與所述過渡金屬催化反應而不與所述襯墊層催化反應。
7.根據權利要求1所述的方法,其中所述選擇性間隙填充工藝包括無電沉積。
8.根據權利要求1所述的方法,其中所述稀釋液體包括載體液體和溶劑中的至少一種。
9.根據權利要求1所述的方法,其中所述稀釋液體不含水。
10.根據權利要求1所述的方法,其中所述稀釋液體包括選自醇、醚、酯、全氟醚的液體。
11.根據權利要求1所述的方法,其中所述稀釋液體包括選自異丙醇(IPA)和乙醇(EtOH)的液體。
12.根據權利要求1所述的方法,其中所述特征具有寬度小于或等于10nm的開口。
13.根據權利要求1所述的方法,其中所述特征具有寬度在7nm到9nm的范圍內的開口。
14.根據權利要求1所述的方法,其中所述特征具有寬度在4nm到7nm的范圍內的開口。
15.根據權利要求1所述的方法,其中所述籽晶層的厚度在2nm-4nm的范圍內。
16.根據權利要求1所述的方法,其中所述熱處理包括在200℃至400℃的范圍內的溫度下退火。
17.根據權利要求1所述的方法,其中所述熱處理包括在250℃至350℃的范圍內的溫度下退火。
18.根據權利要求1所述的方法,其中蒸發所述稀釋液體包括將所述襯底暴露于梯度干燥工藝。
19.根據權利要求1所述的方法,其中對所述稀釋金屬前體溶液進行以下處理中的至少一種:通過毛細管作用在所述多個特征中沉積或濃縮。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于朗姆研究公司,未經朗姆研究公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880016403.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





