[發明專利]用于增材制造系統的成像設備以及監測和檢查增材制造部件的方法

有效

• 申請號: 201880016056.2
• 申請日: 2018-01-11
• 公開（公告）號: CN110382143B
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發明（設計）人: 凱文·喬治·哈丁;威廉·羅伯特·羅斯;布萊恩·愛德華·奈特;文卡塔·維加亞拉哈娃·納拉迪加;克利福德·比諾
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: B22F3/105
• 分類號: B22F3/105;B33Y10/00;B33Y30/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

1.一種增材制造系統，其特征在于，包括：

至少一個成像設備，所述至少一個成像設備被構造為將電磁輻射引向位于所述增材制造系統的粉末床內的部件的構建層；和

多個檢測器，所述多個檢測器構造成檢測從所述構建層反射的所述電磁輻射，其中，所述多個檢測器中的每個檢測器定位在所述增材制造系統內的不同固定位置處并且相對于所述構建層以不同的角度定位。

2.根據權利要求1所述的增材制造系統，其特征在于，其中所述至少一個成像設備包括至少一個X射線設備，并且所述多個檢測器構造成檢測反向散射X射線。

3.根據權利要求1所述的增材制造系統，其特征在于，其中所述至少一個成像設備和所述多個檢測器位于所述構建層和所述粉末床上方。

4.根據權利要求1所述的增材制造系統，其特征在于，其中，所述多個檢測器是數字X射線面板。

5.一種監測在增材制造系統中制造的部件的方法，其特征在于，所述方法包括：

將來自至少一個成像設備的電磁輻射引向位于所述增材制造系統的粉末床內的所述部件的構建層；和

通過多個檢測器來檢測從所述構建層反射的所述電磁輻射，其中，所述多個檢測器中的每個檢測器定位在所述增材制造系統內的不同固定位置并且相對于所述構建層以不同的角度定位。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，進一步包括通過所述電磁輻射的反射角來識別所述構建層內的特征。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，其中所述構建層內的所述特征包括在所述構建層內限定的空隙和在所述構建層內限定的裂縫中的至少一個。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，進一步包括確定所述構建層內的所述特征的大小和深度中的至少一個。

9.一種用于與增材制造的部件一起使用的X射線系統，其特征在于，所述X射線系統包括：

至少一個成像設備，所述至少一個成像設備被構造為將電磁輻射引向所述部件，所述至少一個成像設備能夠單獨定位成鄰近所述部件；和

多個檢測器，所述多個檢測器被構造為檢測從所述至少一個成像設備引導的所述電磁輻射，所述多個檢測器能夠單獨定位成鄰近所述部件，并且與所述至少一個成像設備的位置對應，使得對所述部件的局部預定區域進行成像，其中，所述多個檢測器中的每個檢測器定位在增材制造系統內的不同固定位置處并且相對于所述部件以不同的角度定位。

10.根據權利要求9所述的X射線系統，其特征在于，其中所述X射線系統是模塊化的。

11.根據權利要求9所述的X射線系統，其特征在于，其中所述X射線系統聯接到所述增材制造系統。

12.根據權利要求9所述的X射線系統，其特征在于，其中，所述X射線系統進一步包括聯接到所述至少一個成像設備的定位器，并且其中，所述定位器將所述至少一個成像設備單獨定位成鄰近所述部件。

13.一種檢查在增材制造系統中制造的部件的方法，其特征在于，所述方法包括：

將X射線系統定位成鄰近所述部件，使得所述部件的局部預定區域被成像，其中所述X射線系統包括至少一個成像設備和多個檢測器；

將所述至少一個成像設備單獨定位成鄰近所述部件；

將所述多個檢測器單獨定位成鄰近所述部件，所述多個檢測器對應于所述至少一個成像設備，其中，所述多個檢測器中的每個檢測器定位在所述增材制造系統內的不同固定位置處并且相對于所述部件以不同的角度定位；

將來自所述至少一個成像設備的電磁輻射引向所述部件；和

通過所述多個檢測器來檢測來自所述至少一個成像設備的所述電磁輻射。