[發明專利]電磁波測量裝置以及電磁波測量方法

有效

• 申請號: 201880015862.8
• 申請日: 2018-03-06
• 公開（公告）號: CN110383086B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 久武信太郎
• 申請（專利權）人: 國立大學法人大阪大學
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 金玲;崔成哲

電磁波測量裝置(101、102)具備生成兩種波長的探光的探光生成部(1)以及包括電光晶體且接收通過所述探光生成部(1)生成的所述探光以及被檢測電磁波的電光探針(2、2A、2B)，所述探光生成部(1)進行使所述探光的頻率差變動的變動動作，所述變動動作被設定成遵照所述被檢測電磁波的頻率變動的規格的內容。

技術領域

本發明涉及電磁波測量裝置以及電磁波測量方法，尤其涉及利用電光晶體的電磁波測量裝置以及電磁波測量方法。

本申請主張基于2017年3月6日提交的日本申請特愿2017-41286號的優先權，將其公開內容全部引入本申請中。

背景技術

開發出了利用電光晶體檢測電磁波的各種裝置。作為這樣的檢測電磁波的技術的一例，例如，專利文獻1(特開2014-52272號公報)公開了如下技術。即，電磁波檢測系統具備：第一光源；以與所述第一光源不同的頻率發光的第二光源；將來自所述第一光源的光分支為兩路的第一光分支器；將來自所述第二光源的光分支為兩路的第二光分支器；將通過所述第一光分支器分支的兩路光中的一路光以及通過所述第二光分支器分支的兩路光中的一路光進行合波的第一光合波器；將通過所述第一光分支器分支的兩路光中的另一路光以及通過所述第二光分支器分支的兩路光中的另一路光進行合波的第二光合波器；輸出恒定頻率的振蕩信號的振蕩器；插入到所述第一光分支器與所述第一光合波器之間、所述第二光分支器與所述第一光合波器之間、所述第一光分支器與所述第二光合波器之間以及所述第二光分支器與所述第二光合波器之間中的任意處，通過來自所述振蕩器的振蕩信號將光的頻率移位所述振蕩信號的頻率量的頻率移位器；接收來自所述第一光合波器的不同頻率的兩路光，生成以兩路光的差頻為頻率的第一RF(Radio Frequency：射頻)信號，并將所生成的第一RF信號照射至被測體的RF信號發生器；將來自所述第二光合波器的不同頻率的兩路光作為LO(Local Oscilating：局部振蕩)信號，將透過所述被測體或者被所述被測體反射的第一RF信號以及所述LO信號混合而進行外差檢波，輸出以構成所述LO信號的兩路光的差頻與所述第一RF信號的頻率的差頻為頻率的檢測信號的RF信號檢測器；以及將所述RF信號檢測器輸出的檢測信號通過所述振蕩器輸出的振蕩信號進行2相位鎖相檢測，輸出與所述RF信號檢測器輸出的檢測信號同相位的同相成分以及與所述RF信號檢測器輸出的檢測信號正交相位的正交成分的2相位鎖相檢測器。

另外，專利文獻2(日本特開2017-15703號公報)公開了如下技術。即，電磁波測量裝置具備：光源；接收來自所述光源的光以及電磁波的電光探針；接收從所述電光探針輸出的光的光濾波器；以及將通過所述光濾波器的光轉換為電信號的受光元件，其中，所述電光探針具備電光晶體以及與所述電光晶體光耦合的光纖，設置為所述電光晶體的原有的軸向與入射到所述電光晶體的來自所述光纖的光的偏波方向一致。

先行技術文獻

非專利文獻

非專利文獻1：H.-L.Bloecher et al.“79GHz UWB automotive short rangeradar-Spectrum allocation and technology trends”，Adv.Radio Sci.，2009年，7，61～65

非專利文獻2：井上大輔“通過大規模擬實驗的雷達在車輛搭載時的特性了解”，東京工業大學TSUBAME工業利用試行成果報告(平成26年度(2014年))，2014年

專利文獻

專利文獻1：日本特開2014-52272號公報

專利文獻2：日本特開2017-15703號公報

發明內容

發明要解決的課題

希望開發出超過這樣的專利文獻1以及2記載的技術、可以以低成本良好地測量電磁波的技術。